[实用新型]一种半导体硅片酸腐蚀机清洗槽循环清洗装置有效

专利信息
申请号: 202320139626.5 申请日: 2023-01-17
公开(公告)号: CN219309479U 公开(公告)日: 2023-07-07
发明(设计)人: 贾世杰;王云飞;袁大飞;李天兵;董知悦;魏守冲 申请(专利权)人: 磐石创新(江苏)电子装备有限公司
主分类号: B08B3/02 分类号: B08B3/02;B08B3/12;B08B3/04;B08B13/00
代理公司: 北京东方昭阳知识产权代理事务所(普通合伙) 11599 代理人: 吕燕
地址: 221011 江苏省徐*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体 硅片 酸腐 清洗 循环 装置
【说明书】:

实用新型涉及一种半导体硅片酸腐蚀机清洗槽循环清洗装置,设有清洗槽、腐蚀槽、供水管、排水管;其特征是:所述清洗槽由外槽体和内槽体构成,内槽体底部设有一组超声波发生器,上沿设有锯齿状溢流口;外槽体内侧壁上部,设有QDR喷淋管和供水管;清洗槽设有进水管和溢流水的排水口,内槽体底部还设有与下方的快排暂存槽连通的快排水管;在快排水管上设有pH值测量仪和水电阻率检测仪;所述供水管、排水口、快排水管上均设有自控开关,并设有与该自控开关、pH值测量仪和水电阻率检测仪进行信号和控制电联接的PLC控制器和工作模块。本实用新型适用于硅片清洗,具有结构简洁合理,制作容易,生产和使用成本低,便于维护,清洗效果好的优点。

技术领域

本实用新型涉及一种半导体硅片酸腐蚀机中的清洗技术领域,一种清洗装置,具体是一种半导体硅片酸腐蚀机清洗槽循环清洗装置,该装置中的清洗槽循环使用,一槽多用,可达到多槽清洗效果,是一种改进型的清洗装置。

背景技术

传统的半导体硅片酸腐蚀清洗工艺过程中,必须设有溢流超声槽、腐蚀槽、QDR槽、溢流槽四个清洗工艺槽,设备体积较大,设备制造复杂,制造成本非常高,使用者后期维护成本也较高,且费时费力。因此,非常需要提出一种改进型的清洗装置。

实用新型内容

本实用新型为了解决上述技术问题,提出一种半导体硅片酸腐蚀机清洗槽循环清洗装置。该装置减少清洗槽的数量,采用一槽多用,循环使用清洗的结构,达到多槽的清洗效果。具有结构简洁合理,制作容易,生产和使用成本低,便于维护,清洗效果好的优点。

本实用新型采用以下技术方案:

一种半导体硅片酸腐蚀机清洗槽循环清洗装置,设有清洗槽、腐蚀槽、供水管、排水管,所述腐蚀槽中设有腐蚀笼,腐蚀槽下方设有与腐蚀槽连通的混酸槽;其特征是:所述清洗槽由外槽体和内槽体构成,内槽体为石英材质,内槽体小于外槽体,设置在外槽体内的槽底上,内槽体底部设有一组超声波发生器,内、外槽体的槽壁之间设有间距,内槽体的四周槽口上沿设有锯齿状溢流口;外槽体为耐腐蚀PVDF材质,沿外槽体的左、右两内侧壁上部,分别设有平行排列的QDR喷淋管,该喷淋管上间隔设有喷头,该QDR喷淋管位置高于所述内槽体上沿的溢流口,QDR喷淋管与设置在清洗槽的外槽体外侧的供水管连通;还设有向清洗槽内注水的进水管和排出溢流出水的排水口,内槽体底部还设有与清洗槽下方设置的快排暂存槽连通的快排水管;在所述快排水管的管体上设有测试快排水管出水的pH值的pH值测量仪和测试排出水的电阻率值的水电阻率检测仪;另外,在所述供水管、排水口、快排水管上均设有自控开关,并设有与该自控开关、pH值测量仪和水电阻率检测仪进行信号和控制电联接的PLC控制器,在该PLC控制器内设有信号接收模块、信号比较模块和控制信号发送模块。

本实用新型进一步完善和实施的优化方案是:

所述PLC控制器的型号为西门子6ES7 214-1AG40-0XB0。

所述pH值测量仪的型号为MIK-PH8.0。

所述水电阻率检测仪的型号为LH-CR300。

本实用新型的运行过程:

1)预清洗:硅片首先放置在充满水的清洗槽内,通过超声波进行腐蚀前预清洗工作,预清洗工艺流程主要为先进行溢流+超声波清洗,去除表面杂质后转运至腐蚀槽内进行腐蚀工作;

2)在腐蚀工序进行时,清洗槽保持注满水的工作状态,由于硅片酸腐蚀工艺的特殊性,在腐蚀工艺完成后,为了避免硅片表面发生氧化反应,硅片通过转运结构在1.5秒内快速转运至清洗槽中进行浸泡与超声波漂洗;

3)经过漂洗后清洗槽内开启快速排水,喷淋管开启进水,同时开启喷淋作业,快速排出的水暂存至快排箱内,在清洗槽与快排箱之间的管路上设置pH值测量仪,在排水达到设定的PH值时,关闭快排水管;

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