[发明专利]一种用于检测玉米茎腐病抗性基因ZmCCT的分子标记及其应用在审
| 申请号： | 202310346955.1 | 申请日： | 2023-04-03 |
| 公开（公告）号： | CN116287414A | 公开（公告）日： | 2023-06-23 |
| 发明（设计）人： | 贾佩陇;李乐;闫治斌;马世军;彭佩;汤曼卓;郭铭凯;田冰川;唐顺学 | 申请（专利权）人： | 华智生物技术有限公司;甘肃省敦煌种业集团股份有限公司 |
| 主分类号： | C12Q1/6895 | 分类号： | C12Q1/6895;C12Q1/6858;C12N15/11;A01H1/04 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 马俊 |
| 地址： | 410000 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 检测 玉米 茎腐病 抗性 基因 zmcct 分子 标记 及其 应用 | ||
1.一种用于检测玉米茎腐病抗性基因ZmCCT的分子标记，其特征在于，所述分子标记连锁位置为玉米参考基因组Maize B73 genome sequences AGPv4第10号染色体第94435769bp-94440892bp位的插入或缺失。
2.用于扩增如权利要求1所述的分子标记的引物组。
3.如权利要求2所述的引物组，其特征在于，所述引物组包括特异性引物，所述特异性引物包括如SEQ ID NO.1和SEQ ID NO.2所示的核苷酸序列。
4.如权利要求3所述的引物组，其特征在于，所述特异性引物分别连接FAM和HEX荧光接头序列。
5.如权利要求2所述的引物组，其特征在于，所述引物组还包括通用引物，所述通用引物核苷酸序列如SEQ ID NO.3所示。
6.一种试剂盒，其特征在于，所述试剂盒包括如权利要求2-5任一项所述的引物组。
7.一种基因芯片，其特征在于，所述基因芯片包括如权利要求2-5任一项所述的引物组。
8.如权利要求1所述的分子标记、权利要求2-5任一项所述的引物组、权利要求6所述的试剂盒或权利要求7所述的基因芯片的以下任一应用：
(1)在玉米茎腐病抗性基因ZmCCT的基因型鉴定中的应用；
(2)在检测玉米茎腐病抗性基因ZmCCT中的应用；
(3)在鉴定及筛选具有茎腐病抗性的玉米中的应用；
(4)在玉米分子标记辅助育种中的应用；
(5)在玉米育种中的应用；
(6)在制备玉米育种的产品中的应用。
9.利用如权利要求1所述的分子标记检测玉米茎腐病抗性的方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：
S1、从玉米中提取基因组DNA；
S2、对步骤S1中提取的基因组DNA进行所述分子标记的多态性检测，根据检测结果判断待测玉米的茎腐病抗性。
10.一种玉米育种方法，其特征在于，包括如下步骤：根据如权利要求9所述方法，选择具有茎腐病抗性的样品进行后续育种。
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