[发明专利]深度图像质量评价方法、装置、电子设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202310225423.2 申请日: 2023-03-01
公开(公告)号: CN116385369A 公开(公告)日: 2023-07-04
发明(设计)人: 高跃;程嘉梁;别林 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/90;G06V10/77;G06N3/0464
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 黄德海
地址: 100084*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 深度 图像 质量 评价 方法 装置 电子设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种深度图像质量评价方法,其特征在于,包括以下步骤:

获取待评估的深度图像和对应的参考RGB图像,均以相同的预设分块方式对所述深度图像和所述参考RGB图像进行分块处理,得到多个不重叠的深度图块和RGB图块;

分别提取所述深度图块和所述RGB图块的特征向量;

将所述深度图块和所述RGB图块的特征向量映射至同一欧式空间,并基于映射特征向量构建超图;以及

计算所述超图的关联矩阵,并利用所述关联矩阵对所有图块向量进行超图卷积,得到每个图块的局部质量分数,并基于所述每个图块的局部质量分数生成所述深度图像的整体质量分数。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将所述深度图块和所述RGB图块的特征向量映射至同一欧式空间,包括:

通过线性变换将所述深度图块和所述RGB图块的特征向量进行映射,得到所述映射特征向量。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于映射特征向量构建超图,包括:

利用预设Sigmoid函数将所有所述映射特征向量内积放缩至预设区间之间,以表征图块落在超边中的概率,并基于所述概率生成所述超图。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述每个图块的局部质量分数生成所述深度图像的整体质量分数,包括:

基于预设的超图卷积的质量预测器,利用所述关联矩阵对所有特征向量做超图卷积,并经过多次传播后得到一维向量;

基于所述一维向量得到对应图块的局部质量分数。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述基于所述每个图块的局部质量分数生成所述深度图像的整体质量分数,还包括:

对所述所有图块的局部质量分数取平均,得到平均值;

由所述平均值得到所述深度图像的整体质量分数。

6.一种深度图像质量评价装置,其特征在于,包括:

获取模块,用于获取待评估的深度图像和对应的参考RGB图像,均以相同的预设分块方式对所述深度图像和所述参考RGB图像进行分块处理,得到多个不重叠的深度图块和RGB图块;

提取模块,用于分别提取所述深度图块和所述RGB图块的特征向量;

构建模块,用于将所述深度图块和所述RGB图块的特征向量映射至同一欧式空间,并基于映射特征向量构建超图;以及

生成模块,用于计算所述超图的关联矩阵,并利用所述关联矩阵对所有图块向量进行超图卷积,得到每个图块的局部质量分数,并基于所述每个图块的局部质量分数生成所述深度图像的整体质量分数。

7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述构建模块包括:

获取单元,用于通过线性变换将所述深度图块和所述RGB图块的特征向量进行映射,得到所述映射特征向量。

8.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述构建模块包括:

表征单元,用于利用预设Sigmoid函数将所有所述映射特征向量内积放缩至预设区间之间,以表征图块落在超边中的概率,并基于所述概率生成所述超图。

9.一种电子设备,其特征在于,包括:存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述程序,以实现如权利要求1-5任一项所述的深度图像质量评价方法。

10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行,以用于实现如权利要求1-5任一项所述的深度图像质量评价方法。

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