[发明专利]移动测量装置、测定其合适部署的方法和计算机程序产品在审
申请号: | 202310097752.3 | 申请日: | 2023-01-19 |
公开(公告)号: | CN116499433A | 公开(公告)日: | 2023-07-28 |
发明(设计)人: | C·赫布斯特 | 申请(专利权)人: | 莱卡地球系统公开股份有限公司 |
主分类号: | G01C15/00 | 分类号: | G01C15/00;G01C1/00;G02B23/00;G01C3/08;G06T7/521;G06T7/55;G01C3/00;G01S7/481;G01C11/06;G01C11/02;G01S17/89;G01S17/86;G01S17/42;G06T7/73 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李艳芳;赵鹏 |
地址: | 瑞士海*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 移动 测量 装置 测定 合适 部署 方法 计算机 程序 产品 | ||
1.一种用于测定移动测量装置(1)在测量环境(3)内的合适部署的方法,其中
-从第一部署(4)勘测第一测量区域(2),
-基于该勘测(25),将所述第一测量区域(2)中的多个测量点确定为第一点云,
-使用视觉惯性系统VIS(6)在所述第一部署(4)处自动地光学捕获(12)并跟踪包含第一对象特征(14)的第一测量环境(5),
-出于将所述第一部署(4)改变成第二部署(8)的目的,使所述移动测量装置(1)离开所述第一部署,并且从该第二部署(8)勘测第二测量区域(7),其中,基于该第二勘测,将所述第二测量区域(7)中的多个测量点确定为第二点云,
-在改变所述部署的范围内,使用所述VIS(6)自动地光学捕获(12)并跟踪包含第二对象特征(15)的第二测量环境(9),
-比较所述第一测量环境(5)和所述第二测量环境(9),其中,所述比较是基于在所述第一测量环境(5)和所述第二测量环境(9)中搜索以一定数量和质量可见的对应的第一对象特征(24)和第二对象特征(24)的,其中,该一定数量和质量的对应的特征(24)是能够进行所述第一点云和所述第二点云的配准的标准,
-在所述部署改变(11)期间执行所述第一测量环境(5)和所述第二测量环境(9)的所述比较,
-向用户(10)通知关于在所述部署改变(11)期间所述比较的结果,其中,所述用户(10)被通知
■能够进行所述第一点云和所述第二点云的点云配准,和/或
■不能进行所述第一点云和所述第二点云的点云配准。
2.根据权利要求1所述的方法,
其特征在于
向所述用户(10)通知关于在部署改变(11)期间所述比较的结果,其中,所述用户(10)被通知
■在所述第一测量环境(5)和所述第二测量环境(9)中仍存在以一定数量和质量可见的第一对象特征(14)和第二对象特征(15),和/或
■在所述第一测量环境(5)和所述第二测量环境(9)中不再存在以一定数量和质量可见的第一对象特征(14)和第二对象特征(15)。
3.根据权利要求1或2所述的方法,
其特征在于
基于对所述第一点云和所述第二点云的所述点云配准的可能性的自动分析,检查所述移动测量装置(1)在所述移动(11)的范围内采用的位置对于部署、特别是对于第二部署(8)以及下一个部署(13)的适合性。
4.根据权利要求1至3中的任一项所述的方法,
其特征在于
连续地执行处理,其中,在所述处理的范围中,
-连续地执行对包含第一对象特征(14)的所述第一测量环境(5)和包含第二对象特征(15)的所述第二测量环境(9)的光学捕获(12),和/或
-基于连续捕获的第一测量环境(5)和第二测量环境(9),连续地更新所捕获的第一对象特征(14)和第二对象特征(15),和/或
-连续地执行对所述第一测量环境(5)和所述第二测量环境(9)的比较,和/或
-连续地执行对所捕获的第一对象特征(14)和第二对象特征(15)的比较,和/或
-连续地执行对所述第一点云和所述第二点云的所述点云配准的可能性的自动分析,和/或
-连续地执行对于所述部署的适合性的检查。
5.根据权利要求3和4所述的方法,
其特征在于
一旦将位置确定为不适于部署,就在所述方法的范围内输出用户警告。
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