[发明专利]一种集成电路封装引线框架上的M型磁耦合结构在审
申请号: | 202310082363.3 | 申请日: | 2023-01-16 |
公开(公告)号: | CN115985893A | 公开(公告)日: | 2023-04-18 |
发明(设计)人: | 向乾尹;肖卅;冯全源 | 申请(专利权)人: | 西南交通大学 |
主分类号: | H01L23/552 | 分类号: | H01L23/552;H01L23/495;H01F27/28;H01F27/30 |
代理公司: | 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 | 代理人: | 孙一峰 |
地址: | 610031 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 集成电路 封装 引线 框架 耦合 结构 | ||
1.一种集成电路封装引线框架上的M型磁耦合结构,包括引线框架、金属键合线以及芯片裸片;其特征在于,所述M型磁耦合结构包括第一M型导电结构以及与之电气隔离的第二M型导电结构;所述第一M型导电结构包括第一导体框架、第一芯片裸片、第一金属键合线、第二金属键合线;第一导体框架包括第一导体、第二导体、第三导体、第四导体、第五导体以及第六导体;其中第一导体为第一接地面;第二导体的一端与第一导体相连,第二导体的另一端与第四导体的一端相连形成第一弯折结构;第三导体的一端与第一导体相连,第三导体的另一端与第五导体的一端相连形成第二弯折结构;第四导体的另一端、第五导体的另一端同时与第六导体的一端相连组成第一耦合导体;第一金属键合线连接第六导体的另一端与第一芯片裸片,第二金属键合线连接第一导体与第一芯片裸片;
所述第二M型导电结构和第一M型导电结构呈对称结构;第二M型导电结构包括第二导体框架、第二芯片裸片、第三金属键合线、第四金属键合线;第二导体框架包括第七导体、第八导体、第九导体、第十导体、第十一导体以及第十二导体;其中第七导体为第二接地面;第八导体的一端与第七导体的一端相连,第八导体的另一端与第十导体的一端相连形成第三弯折结构,第九导体的一端与第七导体相连,第九导体的另一端与第十一导体的一端相连形成第四弯折结构;第十导体的另一端、第十一导体的另一端均与第十二导体的一端相连组成第二耦合导体;第三金属键合线连接第十二导体的另一端与第二芯片裸片,第四金属键合线连接第七导体与第二芯片裸片;
第一耦合导体和第二耦合导体相互隔离并平行,第一M型导电结构与第二M型导电结构通过第一耦合导体和第二耦合导体进行磁耦合;第一M型导电结构包含由第一芯片裸片、第一金属键合线、第六导体、第四导体、第二导体、第一导体、第二金属键合线形成的第一导电回路,以及由第一芯片裸片、第一金属键合线、第六导体、第五导体、第三导体、第一导体、第二金属键合线形成的第二导电回路;第二M型导电结构包含由第二芯片裸片、第三金属键合线、第十二导体、第十导体、第八导体、第七导体、第四金属键合线形成的第三导电回路,以及由第二芯片裸片、第三金属键合线、第十二导体、第十一导体、第九导体、第七导体、第四金属键合线形成的第四导电回路;第一导电回路与第二导电回路电流方向相反,产生的磁场方向相反;第三导电回路与第四导电回路电流方向相反,产生的磁场方向相反;实现减弱磁耦合结构的对外辐射,并增强磁耦合结构外部磁场的抗干扰能力。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路封装引线框架上的M型磁耦合结构,其特征在于,所述第一M型导电结构以第六导体和第一芯片裸片的中线为中心,两侧呈对称结构;第二M型导电结构以第十二导体和第二芯片裸片的中线为中心,两侧呈对称结构;因此形成的第一导电回路与第二导电回路面积相等,第三导电回路与第四导电回路面积相等。
3.根据权利要求1所述的一种集成电路封装引线框架上的M型磁耦合结构,其特征在于,所述第六导体的最小宽度为第四导体的宽度,所述第十二导体的最小宽度为第十导体的宽度。
4.根据权利要求1所述的一种集成电路封装引线框架上的M型磁耦合结构,其特征在于,所述第一弯折结构、第二弯折结构、第三弯折结构以及第四弯折结构是折线形或弧形。
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