[发明专利]面板缺陷标注方法、装置、存储介质、设备及程序产品

说明书

本申请的实施例公开了一种面板缺陷标注方法、装置、存储介质、设备及程序产品，涉及图像处理技术领域，包括：在目标图像上分别生成掩码，获得第一掩码图像和第二掩码图像；分别对第一掩码图像和第二掩码图像进行修复，获得第一修复图像与第二修复图像；分别将第一修复图像和第二修复图像，与目标图像进行像素做差，获得第一差值图像和第二差值图像；将第一差值图像与第二差值图像上的缺陷信息合并，获得目标缺陷信息；根据目标缺陷信息，对目标图像上的缺陷进行标注。本申请通过分别生成掩码，将完整缺陷分割为两部分进行提取，最后再合并为完整缺陷进行标注，提取更为准确完整，并避免过程中复杂背板的干扰，提升了缺陷标注的质量。

技术领域

本申请涉及图像处理技术领域，具体涉及一种面板缺陷标注方法、装置、存储介质、设备及程序产品。

背景技术

PCB即印制线路板，简称印制板，是电子工业的重要部件之一。几乎每种电子设备，小到电子手表、计算器，大到计算机、通信电子设备、军用武器系统，只要有集成电路等电子元件，为了使各个元件之间的电气互连，都要使用印制板；为了确保PCB板的质量，对其上的缺陷进行标注提取就显得尤为重要。

现有的缺陷标注技术可以分为手动标注与自动标注，在面对大量标注工作时，手动标注的效率与准确性显然已经无法满足需要，而自动标注技术虽然效率更高，但其模型的训练、异常识别等操作中，依然需要人员参与完成大量标注，这就导致自动标注的效率与准确性受限。

发明内容

本申请的主要目的在于提供一种面板缺陷标注方法、装置、存储介质、设备及程序产品，旨在解决现有技术中缺陷标注的质量较低的问题。

为实现上述目的，本申请的实施例采用的技术方案如下：

第一方面，本申请实施例提供一种面板缺陷标注方法，包括以下步骤：

在目标图像上分别生成掩码，获得第一掩码图像和第二掩码图像；其中，掩码包括位于第一掩码图像上的第一掩码以及位于第二掩码图像上的第二掩码，第一掩码与第二掩码分别掩盖目标图像上的不同区域，并使第一掩码与第二掩码所在区域能够完全覆盖目标图像上的缺陷；

分别对第一掩码图像和第二掩码图像进行修复，以使掩码所在区域被修复为目标图像对应的无缺陷产品图像，获得第一修复图像与第二修复图像；

分别将第一修复图像和第二修复图像，与目标图像进行像素做差，获得第一差值图像和第二差值图像；

将第一差值图像与第二差值图像上的缺陷信息合并，获得目标缺陷信息；

根据目标缺陷信息，对目标图像上的缺陷进行标注。

通过分别生成掩码，分散为多个掩码图像进行图像修复，由于有掩码的存在，未被覆盖的缺陷不会被处理，确保缺陷提取不会有遗落或重合；相当于把一个完整的图像进行分部修复，使得缺陷的提取能够更完整精确，进而再与原来的图像进行像素做差，作差之后修复图像与原来的图像上像素一致的地方就被处理成同样的状态，避免了其他复杂背板的干扰，有利于快速获得图像上的缺陷；而由于是用组合掩码的形式完全覆盖缺陷，分别提取到的缺陷再合并起来就是目标图像上完整的缺陷，准确提取缺陷之后则可以实现对缺陷的快速标准，标注工作可以完全脱离人工，避免人工参与标注降低效率与准确性，缺陷标注的质量得以提升。

在第一方面的一种可能实现方式中，分别将第一修复图像和第二修复图像，与目标图像进行像素做差，获得第一差值图像和第二差值图像之后，面板缺陷标注方法还包括：

分别对第一差值图像和第二差值图像上的缺陷进行提取，获得第一差值图像上缺陷的第一bbox坐标和第二差值图像上缺陷的第二bbox坐标；

将第一差值图像与第二差值图像上的缺陷信息合并，获得目标缺陷信息，包括：

将第一差值图像上缺陷的第一bbox坐标与第二差值图像上缺陷的第二bbox坐标合并，获得目标缺陷位置的bbox坐标信息。