[实用新型]一种安全性高的存储芯片封装装置有效
申请号: | 202220613301.1 | 申请日: | 2022-03-21 |
公开(公告)号: | CN217444363U | 公开(公告)日: | 2022-09-16 |
发明(设计)人: | 李雁峰 | 申请(专利权)人: | 正源芯半导体(深圳)有限公司 |
主分类号: | H01L21/687 | 分类号: | H01L21/687;H01L21/67 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518180 广东省深圳市宝安区石岩街道石龙*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 安全性 存储 芯片 封装 装置 | ||
本实用新型公开了一种安全性高的存储芯片封装装置,包括下箱体和上箱体,所述下箱体的下表面靠近四角活动安装有滚轮,所述下箱体的上表面固定安装有上箱体,所述上箱体的前表面活动安装有透明安全门,所述上箱体的内部上表面固定安装有伸缩装置,所述伸缩装置的伸缩端固定安装有封装压板,所述上箱体的上表面嵌设有托盘。本实用新型所述的一种安全性高的存储芯片封装装置,通过设置的封装压板和托盘,可以单次对多个芯片进行封装,有提高了封装效率,通过设置的封装模具,当封装压板与托盘分离开后,封装模具会携带封装后的芯片上升,当封装模具上升到最高点后,封装模具的活动板便会翻转打开,此时便可以便捷的取出封装后的芯片。
技术领域
本实用新型涉及芯片封装技术领域,特别涉及一种安全性高的存储芯片封装装置。
背景技术
芯片,又称微电路、微芯片、集成电路,是指内含集成电路的硅片,体积很小,常常是计算机或其他电子设备的一部分,而芯片为了更好的发挥其功能,便会利用封装装置对芯片进行封装,以便保护芯片,增加芯片的使用寿命;
然而现阶段的芯片封装装置存在一些不足,例如申请号为202121963660.1,其公开了“一种芯片封装设备”,芯片放入承接座的内部后,会被吸盘吸附住,当封装结束后,由于吸盘对芯片有吸力,便会使得芯片不便于从承接座的内部取出,并且封装装置单次只能对一个芯片进行封装,封装的效率较低。
实用新型内容
本实用新型的主要目的在于提供一种安全性高的存储芯片封装装置,可以有效解决背景技术中的技术问题。
为实现上述目的,本实用新型采取的技术方案为:
一种安全性高的存储芯片封装装置,包括下箱体和上箱体,所述下箱体的下表面靠近四角活动安装有滚轮,所述下箱体的上表面固定安装有上箱体,所述上箱体的前表面活动安装有透明安全门,所述上箱体的内部上表面固定安装有伸缩装置,所述伸缩装置的伸缩端固定安装有封装压板,所述上箱体的上表面嵌设有托盘,所述托盘的上表面活动嵌设有封装模具。
优选的,所述下箱体的上表面且位于封装压板的下方固定安装有底座,所述下箱体的两侧表面固定嵌设有散热板,所述下箱体的前表面活动安装有检修门,所述底座的上表面靠近四角开设有定位槽。
优选的,所述托盘的两侧表面位于中部固定安装有把手,所述托盘的下表面靠近四角固定安装有定位杆,所述托盘的上表面开设有凹槽,所述凹槽的内部两侧表面开设有限位槽,所述凹槽的数量为若干个。
优选的,所述封装压板的上表面固定安装有固定块,所述固定块的下表面固定安装有支撑杆,所述支撑杆的下表面固定安装有压合板,所述支撑杆的上端穿过封装压板与固定块固定,所述固定块的数量为若干个。
优选的,所述封装模具由底板、挡板和活动板组成,所述底板的前表面和后表面且靠近上方固定安装有挡板,所述底板的两侧活动板安装有活动板,所述底板的两侧表面靠近下方固定安装有限位板,所述底板的下表面靠近四角活动嵌设有防脱杆,所述防脱杆的表面且位于底板的下方套设有弹簧。
优选的,所述防脱杆的下端与凹槽连接,所述限位板嵌设在限位槽中,所述定位杆嵌设在定位槽中。
与现有技术相比,本实用新型具有如下有益效果:
本实用新型中,通过设置的封装压板和托盘,可以单次对多个芯片进行封装,有提高了封装效率,通过设置的封装模具,当封装压板与托盘分离开后,封装模具会携带封装后的芯片上升,当封装模具上升到最高点后,封装模具的活动板便会翻转打开,此时便可以便捷的取出封装后的芯片。
附图说明
图1为本实用新型一种安全性高的存储芯片封装装置的整体结构图;
图2为本实用新型一种安全性高的存储芯片封装装置的托盘拆分示意图;
图3为本实用新型一种安全性高的存储芯片封装装置的图2中A处放大图;
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造