[发明专利]电阻阻值温变线性度计算方法及系统

说明书

本发明涉及电子元器件检测技术领域，公开一种电阻阻值温变线性度计算方法及系统，以供择优筛选精密电阻。方法包括：步骤S1、获取厂家对精密电阻进行温扫实验所分别测量的不同温度下各精密电阻的阻值；步骤S2、根据温扫试验实测情况建立该精密电阻的温变曲线；步骤S3、通过实际测量值与温变曲线的拟合残差得到精密电阻的阻值线性度。本发明简单实用，弥补了温度系数无法评价精密电阻全温下的阻值线性度的不足，能作为温度系数的补充在同温度系数的系列电阻中择优筛选更精密的目标电阻。

技术领域

本发明涉及电子元器件检测技术领域，尤其涉及一种适用于I/F变换电路的电阻阻值温变线性度计算方法及系统。

背景技术

I/F变换电路(即电流频率转换电路)能够实现激光捷联惯组中加速度测量通道的精确测量，其所使用的精密电阻在不同温度条件下，阻值会发生变化，该变化量与变化趋势将影响I/F电路的输出状态。针对精密电阻的温度特性，使用温度补偿算法可以提高全温下I/F电路输出的稳定性，所使用的温度补偿算法要求精密电阻的阻值具有良好的温度重复性以及线性度，根据厂家所提供的温度系数计算方法以及实测数据，其温度系数指标可以评价精密电阻的温度重复性以及全温变化量，但温度系数无法评价精密电阻全温下的阻值线性度。为了能够正确计算精密电阻全温下的阻值线性度，提出一种阻值线性度计算方法来评价精密电阻在全温下阻值的线性表现情况。针对一组由厂家提供的具有相同温度系数指标的精密电阻，首先根据所提方法计算得到各自线性度，然后将不同线性度的精密电阻应用于恒流源电路，最后进行数据分析。实验结果表明，使用所提出的线性度计算方法进行择优筛选精密电阻，可以改善温度补偿精度，从而提高I/F电路全温下的测量精度。

发明内容

本发明目的在于公开一种电阻阻值温变线性度计算方法及系统，以供择优筛选精密电阻。

为达上述目的，本发明电阻阻值温变线性度计算方法包括：

步骤S1、获取厂家对精密电阻进行温扫实验所分别测量的不同温度下各精密电阻的阻值；

步骤S2、根据温扫试验实测情况建立该精密电阻的温变曲线；

步骤S3、通过实际测量值与温变曲线的拟合残差得到精密电阻的阻值线性度。

优选地，所述步骤S3包括：

步骤S31、将每个温度点视为X轴数据，将每个温度点所对应的实测阻值作为Y轴数据，对其进行一阶曲线拟合，得到多项式如下：

式一：

p(x)＝a×x¹+b×x⁰

步骤S32、根据式一得到的系数结合式二计算出理想情况下在每个温度点的温度系数取值，得到数组f(d₁)～f(d_n)，后续使用f表示数组，算式如下：

式二：

f(d₁)＝a×t₁+b

f(d₂)＝a×t₂+b

...........................

f(d_n)＝a×t_n+b

该步骤本质即取温扫点相对应的温度参考值代入上述式一而计算出对应的理想值。

步骤S33、计算非线性度，算式如下所示：

式三：