[发明专利]电阻阻值温变线性度计算方法及系统

权利要求书

1.一种电阻阻值温变线性度计算方法，其特征在于，包括：

步骤S1、获取厂家对精密电阻进行温扫实验所分别测量的不同温度下各精密电阻的阻值；

步骤S2、根据温扫试验实测情况建立该精密电阻的温变曲线；

步骤S3、通过实际测量值与温变曲线的拟合残差得到精密电阻的阻值线性度。

2.根据权利要求1所述的电阻阻值温变线性度计算方法，其特征在于，所述步骤S3包括：

步骤S31、将每个温度点视为X轴数据，将每个温度点所对应的实测阻值作为Y轴数据，对其进行一阶曲线拟合，得到多项式如下：

式一：

p(x)＝a×x¹+b×x⁰

步骤S32、根据式一得到的系数结合式二计算出理想情况下在每个温度点的温度系数取值，得到数组f(d₁)～f(d_n)，后续使用f表示数组，算式如下：

式二：

f(d₁)＝a×t₁+b

f(d₂)＝a×t₂+b

...........................

f(d_n)＝a×t_n+b

步骤S33、计算非线性度，算式如下所示：

式三：

其中，t_n表示温扫的温度参考值，r表示温扫的电阻实测值构成的数组，n表示温扫点的总个数；mean表示所有温扫点下的实测阻值的平均值，Linearity表示线性度，Nonlinearity表示非线性度。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，该精密电阻应用于I/F变换电路中，温扫范围为-20℃～+70℃，且每10℃确定温扫点。

4.根据权利要求1至3任一所述的电阻阻值温变线性度计算方法，其特征在于，还包括：

步骤S4、获取同一个厂家提供的具有相同温度系数指标的至少两个精密电阻分别基于上述步骤S1至步骤S3所计算得出的非线性度；

步骤S5、对各线性度按从小到大的顺序进行排序；并筛选出非线性度小于用户所设置筛选阈值的精密电阻。

5.一种电阻阻值温变线性度计算系统，包括存储器、处理器以及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述权利要求1至4任一所述的方法。