[发明专利]一种磁畴壁移动速度的测量方法

权利要求书

1.一种磁畴壁移动速度的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1：获取i时刻的磁畴图像；

S2：获取j时刻的磁畴图像 ；

S3：根据、计算磁畴变化图像；

S4：对进行边缘识别；

S5：根据识别到的边缘，分别对待分析轮廓、进行圆拟合，得到相应的半径、；

S6：计算磁畴壁移动速度。

2.如权利要求1所述的一种磁畴壁移动速度的测量方法，其特征在于：所述S3中，通过将与进行做差，得到。

3.如权利要求1所述的一种磁畴壁移动速度的测量方法，其特征在于：所述S3中，将图像中的每一个像素值与预设值a相乘，得到的结果作为新的。

4.如权利要求3所述的一种磁畴壁移动速度的测量方法，其特征在于：a∈[100, 200]。

5.如权利要求1所述的一种磁畴壁移动速度的测量方法，其特征在于：所述S4包括：

S41：对进行模糊，得到图像；

S42：将转为灰度图，得到图像；

S43：对进行二值化操作，得到图像；

S44：对进行边缘识别。

6.如权利要求1所述的一种磁畴壁移动速度的测量方法，其特征在于：所述S5中，选取至少两个所述边缘并分析包围关系，选取具有包围关系的两边缘的各至少部分区域，分别作为所述轮廓、。

7.如权利要求6所述的一种磁畴壁移动速度的测量方法，其特征在于：计算所述边缘的最小外接矩形，所述最小外接矩形之间存在包围关系时，对应的所述边缘存在包围关系。

8.如权利要求6所述的一种磁畴壁移动速度的测量方法，其特征在于：当一个所述边缘包围另外的至少两个所述边缘时，将外侧的所述边缘作为次级边缘，将被包围的所述边缘作为初级边缘，根据所述初级边缘分解所述次级边缘；

将所述初级边缘的其中之一，与相应的所述次级边缘的部分区域，作为所述第一轮廓、第二轮廓。

9.如权利要求8所述的一种磁畴壁移动速度的测量方法，其特征在于：所述次级边缘通过如下方式进行分解：

分别对各个所述初级边缘进行圆拟合，获取各圆心与其最接近的圆心的对称中心线与所述次级边缘的交点，将次级边缘分解为至少两个区域；

所述初级边缘的其中之一，和与该所述初级边缘最接近的所述次级边缘的区域，分别作为所述轮廓、。

10.如权利要求1所述的一种磁畴壁移动速度的测量方法，其特征在于：优选地，所述边缘可以为开放曲线、封闭曲线，或开放曲线、封闭曲线的组合。

11.如权利要求1所述的一种磁畴壁移动速度的测量方法，其特征在于：所述S4中，所述第一轮廓和所述第二轮廓的长度均大于预设长度。

12.如权利要求1所述的一种磁畴壁移动速度的测量方法，其特征在于：所述S5中，结合所述磁畴图像、与实际物体的尺寸对应关系，计算、。

13.如权利要求1所述的一种磁畴壁移动速度的测量方法，其特征在于：所述磁畴图像、与实际物体的尺寸比例相同。

14.一种图像处理设备，其特征在于：包括存储器和处理器；所述处理器用于与所述存储器耦合，读取并执行所述存储器中的指令，使得所述终端设备实现权利要求1-13中任一项所述的方法。

15.一种可读存储介质，其特征在于：所述可读存储介质上存储有计算机程序；所述计算机程序在被执行时，实现权利要求1-13中任一项所述的方法。