[发明专利]一种激光线标定方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号: | 202211266106.7 | 申请日: | 2022-10-17 |
| 公开(公告)号: | CN115511980A | 公开(公告)日: | 2022-12-23 |
| 发明(设计)人: | 王辰;高俊辉;何源;孙繁;邰森 | 申请(专利权)人: | 武汉中观自动化科技有限公司 |
| 主分类号: | G06T7/80 | 分类号: | G06T7/80 |
| 代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 曹瑞敏 |
| 地址: | 430205 湖北省武汉市东湖新技术开发*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 激光 标定 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
本申请提供一种激光线标定方法、装置、设备及存储介质,涉及激光测量技术领域。该方法包括:获取双目三维激光扫描设备的第一相机设备、第二相机设备采集的多个标定位置对应的多帧激光线左图像、激光线右图像;对各标定位置对应的各激光线左图像和各激光线右图像进行图像分析,得到各标定位置的像素坐标系中各行对应的多组激光对应点的像素横坐标;基于激光对应点的预设线性关系以及各标定位置的像素坐标系中各行对应的多组激光对应点的像素横坐标,得到像素坐标系中各行对应的目标标定参数;根据像素坐标系中各行对应的目标标定参数以及各行的行号,建立标定参数查找表。这样可以提高对激光线进行标定的精确度,进而提高三维点云信息的精确度。
技术领域
本申请涉及激光测量技术领域,具体而言,涉及一种激光线标定方法、装置、设备及存储介质。
背景技术
三维激光扫描仪通过激光发射器将激光线投影到物体表面,基于激光线标定以及三角测量原理得到物体的三维点云信息。其中,通过激光线标定,可以建立三维激光扫描仪相机图像中的像素坐标与世界坐标之间的对应关系,也就是说,标定是三维激光扫描仪能够获得精确三维点云信息的重要步骤。
目前,主要利用激光线平面方程法对激光线进行标定,激光线平面方程法将每条激光线用多项式模型来近似表示。
但是,随着激光线数的增加,拟合激光线的多项式模型所需要的参数也随之增加,同时,多项式模型对应的参数增加到一定程度时会出现过拟合现象,这样会影响获取到的三维点云信息的精确度。所以,如何提高对激光线进行标定的精确度,进而提高三维点云信息的精确度是当前亟待解决的技术问题。
发明内容
本申请的目的在于,针对上述现有技术中的不足,提供一种激光线标定方法、装置、设备及存储介质,可以提高对激光线进行标定的精确度,进而提高三维点云信息的精确度。
为实现上述目的,本申请实施例采用的技术方案如下:
第一方面,本申请实施例提供了一种激光线标定方法,所述方法包括:
获取双目三维激光扫描设备的第一相机设备采集的多个标定位置对应的多帧激光线左图像,并且,获取所述双目三维激光扫描设备的第二相机设备采集多个标定位置对应的多帧激光线右图像,其中,所述激光线左图像、所述激光线右图像中包括所述双目三维激光扫描设备的激光发射器以预设亮度发射到标定物体上的多条激光线;
对各所述标定位置对应的各激光线左图像和各激光线右图像进行图像分析,得到各所述标定位置的像素坐标系中各行对应的多组激光对应点的像素横坐标,其中,各组激光对应点中包括第一激光对应点以及第二激光对应点,所述第一激光对应点为标定物体上的物理点在所述激光线左图像中的像素点,所述第二激光对应点为所述物理点在所述激光线右图像中的像素点;
基于激光对应点的预设线性关系以及各所述标定位置的像素坐标系中各行对应的多组激光对应点的像素横坐标,得到像素坐标系中各行对应的目标标定参数;
根据所述像素坐标系中各行对应的目标标定参数以及各行的行号,建立标定参数查找表,所述标定参数查找表中的目标标定参数用于将像素坐标转换为世界坐标系中的三维点云坐标。
可选地,所述基于激光对应点的预设线性关系以及各所述标定位置的像素坐标系中各行对应的多组激光对应点的像素横坐标,得到像素坐标系中各行对应的目标标定参数,包括:
将各所述标定位置的像素坐标系中各行对应的多组激光对应点的像素横坐标按照标定参数的数量进行组合,得到各所述标定位置的像素坐标系中各行对应的多个激光对应点集合,各激光对应点集合中包括多组激光对应点的像素横坐标;
基于所述预设线性关系以及各所述标定位置的像素坐标系中各行对应的多个激光对应点集合,得到各所述标定位置的像素坐标系中各行对应的标定参数;
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