[发明专利]一种显示面板边缘线缺陷检测方法及应用在审
申请号: | 202211191534.8 | 申请日: | 2022-09-28 |
公开(公告)号: | CN115578331A | 公开(公告)日: | 2023-01-06 |
发明(设计)人: | 方锑;林松;舒昂 | 申请(专利权)人: | 武汉精立电子技术有限公司;苏州精濑光电有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/13;G06T7/62;G06T7/90 |
代理公司: | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人: | 纪元 |
地址: | 430205 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 显示 面板 边缘 缺陷 检测 方法 应用 | ||
本发明公开了一种显示面板边缘线缺陷检测方法,包括:获取显示面板检测图像并提取显示面板检测图像中的显示区域;根据预设边缘区域宽度标记出显示区域中的边缘区域;将边缘区域自宽度方向和长度方向划分为若干个子区域,并根据预设灰度阈值判断各子区域是否为缺陷,将判断为缺陷的子区域标记为初始缺陷区域;根据初始缺陷区域的尺寸参数确定初始缺陷区域中的过检区域;除去初始缺陷区域中的过检区域,得到目标缺陷区域。其可以解决现有的显示面板缺陷检测由于图像信噪比问题或有复杂纹理导致边缘线类缺陷检测困难,难以避免过漏检现象的问题。
技术领域
本发明涉及LCD/OLED显示面板自动光学检测领域,尤其涉及到一种显示面板边缘线缺陷检测方法、一种显示面板边缘线缺陷检测装置和一种显示面板边缘线缺陷检测系统以及一种计算机可读存储介质。
背景技术
在工业领域高速发展的趋势下,LCD和OLED面板检测任务逐渐由人工检测到机器检测转变,因此AOI系统扮演着人工的角色进行一系列高强度、高精度的检测任务,极大的提高了生产效率和解放生产力。
AOI的应用场景中边缘检测的准确性是比较难的一个问题,因为在边缘会有屏体本身或光学系统引起的图像信噪比问题或有复杂纹理,这些都会引起过漏检,尤其是过检测。因此,如何避免显示面板边缘线类缺陷(特别是1-3像素)的过漏检现象是当前亟待解决的问题。
发明内容
针对现有技术的以上缺陷或改进需求,本发明提供了一种显示面板边缘线缺陷检测方法、一种显示面板边缘线缺陷检测装置和一种显示面板边缘线缺陷检测系统以及一种计算机可读存储介质,其可以解决现有的显示面板缺陷检测由于图像信噪比问题或有复杂纹理导致边缘线类缺陷(1-3像素)检测困难,难以避免过漏检现象。
一方面,本发明实施例提供了一种显示面板边缘线缺陷检测方法,包括:获取显示面板检测图像并提取所述显示面板检测图像中的显示区域;根据预设边缘区域宽度标记出所述显示区域中的边缘区域;将所述边缘区域自宽度方向和长度方向划分为若干个子区域,并根据预设灰度阈值判断各所述子区域是否为缺陷,将判断为缺陷的所述子区域标记为初始缺陷区域;根据所述初始缺陷区域的尺寸参数确定所述初始缺陷区域中的过检区域;除去所述初始缺陷区域中的所述过检区域,得到目标缺陷区域。
在本发明的一个实施例中,所述根据所述初始缺陷区域的长度参数和宽度参数确定所述初始缺陷区域中的过检区域,包括:判断所述初始缺陷区域与所述显示区域的边缘是否粘连,判断为是则根据长度参数和第一宽度参数确定所述缺陷区域中的过检区域,判断为否则根据所述长度参数和第二宽度参数确定所述缺陷区域中的过检区域。
在本发明的一个实施例中,所述根据预设灰度阈值判断各所述子区域是否为缺陷,包括:分别计算所述宽度方向的若干个子区域的第一灰度值和所述长度方向的若干个子区域的第二灰度值;根据预设加权比例对所述第一灰度值和所述第二灰度值进行加权计算,以得到每个所述子区域的灰度值;根据每个所述子区域的灰度值判断对应的所述子区域是否为缺陷。
在本发明的一个实施例中,所述根据预设边缘区域宽度标记出所述显示区域中的边缘区域之后,还包括:选出所述边缘区域的边框部分,并计算所述边框部分的灰度值;以所述边框部分的灰度值为基准拉升所述边缘区域的灰度值。
另一方面,本发明实施例提出一种显示面板边缘线缺陷检测装置,包括:显示区域提取模块,用于获取显示面板检测图像并提取所述显示面板检测图像中的显示区域;边缘区域标记模块,用于根据预设边缘区域宽度标记出所述显示区域中的边缘区域;初始缺陷区域判断模块,用于将所述边缘区域自宽度方向和长度方向划分为若干个子区域,并根据预设灰度阈值判断各所述子区域是否为缺陷,将判断为缺陷的所述子区域标记为初始缺陷区域;过检区域确定模块,用于根据所述初始缺陷区域的尺寸参数确定所述初始缺陷区域中的过检区域;目标缺陷区域得到模块,用于除去所述初始缺陷区域中的所述过检区域,得到目标缺陷区域。
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