[发明专利]外延结构及其制备方法在审
申请号: | 202211064714.X | 申请日: | 2022-08-31 |
公开(公告)号: | CN115662876A | 公开(公告)日: | 2023-01-31 |
发明(设计)人: | 邢琨;杨波;胡君玮;夏智虎 | 申请(专利权)人: | 珠海庞纳微半导体科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 邱群 |
地址: | 519000 广东省珠海市横琴新*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 外延 结构 及其 制备 方法 | ||
1.一种外延结构的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括:
提供衬底;
形成位于所述衬底一侧的缓冲层;
形成位于所述缓冲层背离所述衬底的一侧的外延层;
其中,在形成所述缓冲层和/或所述外延层的过程中,加入含镁源与锑源中的至少一者。
2.如权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述形成位于所述衬底一侧的缓冲层的步骤,包括:
形成位于所述衬底一侧的所述缓冲层;其中,在形成所述缓冲层的过程中,加入含所述镁源与所述锑源中的至少一者;
对所述缓冲层进行高温退火处理。
3.如权利要求2所述的制备方法,其特征在于,所述缓冲层包括相连的多个第一核岛;对所述多个第一核岛进行高温退火处理,所述多个第一核岛的部分相互合并转变为间隔排布的多个第二核岛,且所述第一核岛的高度小于所述第二核岛的高度;其中,所述第一核岛的高度h1、所述第二核岛的高度h2满足以下条件:15nm≤h1≤35nm、50nm≤h2≤250nm。
4.如权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述形成位于所述缓冲层背离所述衬底的一侧的外延层的步骤,包括:
外延形成位于所述缓冲层背离所述衬底一侧的多个第三核岛;
对所述多个第三核岛进行外延,以得到所述外延层,在形成所述外延层的过程中,加入含所述镁源与所述锑源中的至少一者。
5.如权利要求4所述的制备方法,其特征在于,所述对所述多个第三核岛进行外延的步骤,包括:
对所述多个第三核岛进行外延,所述多个第三核岛相互合并;在所述多个第三核岛相互合并的过程中,加入含所述镁源与所述锑源中的至少一者;
对合并后的所述多个第三核岛进行外延,以得到所述外延层。
6.如权利要求1所述的制备方法,其特征在于,在横向生长形成所述外延层的过程中,V族源和Ⅲ族源的摩尔流量比满足以下条件:500≤V/III≤1000,反应腔压力满足以下条件:50torr≤P≤100torr。
7.如权利要求1所述的制备方法,其特征在于,在形成所述缓冲层和/或所述外延层的过程中,所述镁源包括但不限于双环戊二烯基镁、双甲基环苯二烯基镁,所述锑源包括但不限于三乙基锑、三-二乙基氨锑。
8.一种外延结构,其特征在于,所述外延结构包括衬底、以及依次层叠设置于所述衬底一侧的缓冲层与外延层,所述缓冲层和/或所述外延层具有镁元素、锑元素中的至少一者。
9.如权利要求8所述的外延结构,其特征在于,所述外延层背离所述衬底一侧的表面粗糙度的均方根RMS满足以下条件:0.2nm≤RMS≤5nm。
10.如权利要求8所述的外延结构,其特征在于,所述外延结构满足如下情况的至少一种:
在所述外延结构中,所述外延结构具有六方晶系,XRD沿六方晶系(0002)面衍射角的摇摆曲线半高宽不大于200弧秒;
在所述外延结构中,所述外延结构具有六方晶系,XRD沿六方晶系(10-12)面的衍射角的摇摆曲线半高宽不大于400弧秒。
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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