[发明专利]外延结构及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202211064714.X 申请日: 2022-08-31
公开(公告)号: CN115662876A 公开(公告)日: 2023-01-31
发明(设计)人: 邢琨;杨波;胡君玮;夏智虎 申请(专利权)人: 珠海庞纳微半导体科技有限公司
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 邱群
地址: 519000 广东省珠海市横琴新*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 外延 结构 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种外延结构的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括:

提供衬底;

形成位于所述衬底一侧的缓冲层;

形成位于所述缓冲层背离所述衬底的一侧的外延层;

其中,在形成所述缓冲层和/或所述外延层的过程中,加入含镁源与锑源中的至少一者。

2.如权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述形成位于所述衬底一侧的缓冲层的步骤,包括:

形成位于所述衬底一侧的所述缓冲层;其中,在形成所述缓冲层的过程中,加入含所述镁源与所述锑源中的至少一者;

对所述缓冲层进行高温退火处理。

3.如权利要求2所述的制备方法,其特征在于,所述缓冲层包括相连的多个第一核岛;对所述多个第一核岛进行高温退火处理,所述多个第一核岛的部分相互合并转变为间隔排布的多个第二核岛,且所述第一核岛的高度小于所述第二核岛的高度;其中,所述第一核岛的高度h1、所述第二核岛的高度h2满足以下条件:15nm≤h1≤35nm、50nm≤h2≤250nm。

4.如权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述形成位于所述缓冲层背离所述衬底的一侧的外延层的步骤,包括:

外延形成位于所述缓冲层背离所述衬底一侧的多个第三核岛;

对所述多个第三核岛进行外延,以得到所述外延层,在形成所述外延层的过程中,加入含所述镁源与所述锑源中的至少一者。

5.如权利要求4所述的制备方法,其特征在于,所述对所述多个第三核岛进行外延的步骤,包括:

对所述多个第三核岛进行外延,所述多个第三核岛相互合并;在所述多个第三核岛相互合并的过程中,加入含所述镁源与所述锑源中的至少一者;

对合并后的所述多个第三核岛进行外延,以得到所述外延层。

6.如权利要求1所述的制备方法,其特征在于,在横向生长形成所述外延层的过程中,V族源和Ⅲ族源的摩尔流量比满足以下条件:500≤V/III≤1000,反应腔压力满足以下条件:50torr≤P≤100torr。

7.如权利要求1所述的制备方法,其特征在于,在形成所述缓冲层和/或所述外延层的过程中,所述镁源包括但不限于双环戊二烯基镁、双甲基环苯二烯基镁,所述锑源包括但不限于三乙基锑、三-二乙基氨锑。

8.一种外延结构,其特征在于,所述外延结构包括衬底、以及依次层叠设置于所述衬底一侧的缓冲层与外延层,所述缓冲层和/或所述外延层具有镁元素、锑元素中的至少一者。

9.如权利要求8所述的外延结构,其特征在于,所述外延层背离所述衬底一侧的表面粗糙度的均方根RMS满足以下条件:0.2nm≤RMS≤5nm。

10.如权利要求8所述的外延结构,其特征在于,所述外延结构满足如下情况的至少一种:

在所述外延结构中,所述外延结构具有六方晶系,XRD沿六方晶系(0002)面衍射角的摇摆曲线半高宽不大于200弧秒;

在所述外延结构中,所述外延结构具有六方晶系,XRD沿六方晶系(10-12)面的衍射角的摇摆曲线半高宽不大于400弧秒。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于珠海庞纳微半导体科技有限公司,未经珠海庞纳微半导体科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202211064714.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top