[发明专利]一种防短路LED芯片及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202211064708.4 申请日: 2022-09-01
公开(公告)号: CN115458638A 公开(公告)日: 2022-12-09
发明(设计)人: 邱小龙;史洁;罗红波;张会雪;陈景文 申请(专利权)人: 湖北深紫科技有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/38;H01L33/44
代理公司: 武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙) 42231 代理人: 张杰
地址: 436000 湖北省鄂州市梧桐湖新区凤凰*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 短路 led 芯片 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种防短路LED芯片制备方法,其特征在于,包括如下步骤:

S1,在蓝宝石衬底上依次生长N型半导体层、发光层和P型半导体层;

S2,在所述P型半导体层上依次沉积SiO2薄膜和光刻胶层,所述光刻胶层的垂直投影面积小于所述SiO2薄膜的垂直投影面积;

S3,采用氢氟酸腐蚀处理所述SiO2薄膜,至所述SiO2薄膜的垂直投影面积小于光刻胶层的垂直投影面积;

S4,基于所述光刻胶层的图形,采用ICP刻蚀N型半导体层至P型半导体层,刻蚀后去除光刻胶层;

S5,采用ICP-mesa刻蚀发光层和P型半导体层,刻蚀后去除SiO2薄膜;

S6,在所述P型半导体层上依次沉积ITO薄膜、保护层以及金属电极,制得防短路LED芯片。

2.根据权利要求1所述防短路LED芯片制备方法,其特征在于,所述N型半导体层为N型GaN层,P型半导体层为P型GaN层。

3.根据权利要求1所述防短路LED芯片制备方法,其特征在于,所述S2步骤中,所述SiO2薄膜的厚度为

4.根据权利要求1所述防短路LED芯片制备方法,其特征在于,所述S2步骤中,所述光刻胶层的厚度为

5.根据权利要求1所述防短路LED芯片制备方法,其特征在于,所述S4步骤刻蚀完成后,所述蓝宝石衬底与N型半导体层之间形成第一台阶结构。

6.根据权利要求5所述防短路LED芯片制备方法,其特征在于,所述S5步骤刻蚀完成后,所述N型半导体层与发光层之间形成第二台阶结构。

7.根据权利要求6所述防短路LED芯片制备方法,其特征在于,所述S6步骤中,所述保护层为氧化硅钝化层。

8.根据权利要求6所述防短路LED芯片制备方法,其特征在于,所述保护层覆盖所述第一台阶结构、第二台阶结构以及ITO薄膜。

9.根据权利要求6所述防短路LED芯片制备方法,其特征在于,所述金属电极包括n电极和p电极,所述n电极贯穿所述保护层后与所述n型半导体层连接,所述p电极贯穿所述保护层后与所述ITO薄膜连接。

10.一种防短路LED芯片,其特征在于,所述防短路LED芯片由权利要求1~9中任一所述防短路LED芯片制备方法制备得到。

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