[发明专利]一种电源芯片质量检测方法及系统

说明书

本发明公开了一种电源芯片质量检测方法及系统，包括S1，获取电源芯片的引脚的外观图像；S2，获取外观图像在RGB颜色空间中的红色分量的图像imgR、绿色分量的图像imgG和蓝色分量的图像imgB；S3，分别对imgR、imgG、imgB进行降噪处理，获得图像lwnsimgR、lwnsimgG、lwnsimgB；S4，分别对lwnsimgR、lwnsimgG、lwnsimgB进行图像分割处理，获得图像sgtimgR、sgtimgG、sgtimgB；S5，对sgtimgR、sgtimgG、sgtimgB进行图像融合处理，获得图像trgimg；S6，对trgimg进行特征提取，获得特征信息；S7，基于特征信息判断电源芯片的引脚是否通过质量检测。本发明在图像分割之前并没有进行图像灰度化处理，能够比灰度化处理保留更多的细节信息，有效地提高了使用图像识别技术对电源管理芯片的引脚进行检测的结果的准确性。

技术领域

本发明涉及检测领域，尤其涉及一种电源芯片质量检测方法及系统。

背景技术

电源芯片是在电子设备系统中担负起对电能的变换、分配、检测及其他电能管理的职责的芯片。主要负责识别CPU供电幅值，产生相应的短矩波，推动后级电路进行功率输出。

电源芯片生产出来后需要进行多方面的质量检测，在引脚检测方面，现有技术一般是采用图像识别的方式来进行检测，但是现有的图像识别过程，一般是对图像进行灰度化处理后，再进行剩余的降噪等识别步骤，这样的处理方式，不利于细节信息的保留，从而导致图像识别结果不够准确，影响质量检测的结果。

发明内容

本发明的目的在于公开一种电源芯片质量检测方法及系统，解决现有技术中，采用图像识别技术对电源芯片的引脚进行质量检测时，先对图像进行灰度化，再进行其余的识别步骤，导致细节信息保留不足，影响图像识别结果的准确度的问题。

为了达到上述目的，本发明采用如下技术方案：

一方面，本发明提供了一种电源芯片质量检测方法，包括：

S1，获取电源芯片的引脚的外观图像；

S2，获取外观图像在RGB颜色空间中的红色分量的图像imgR、绿色分量的图像imgG和蓝色分量的图像imgB；

S3，分别对imgR、imgG、imgB进行降噪处理，获得图像lwnsimgR、lwnsimgG、lwnsimgB；

S4，分别对lwnsimgR、lwnsimgG、lwnsimgB进行图像分割处理，获得图像sgtimgR、sgtimgG、sgtimgB；

S5，对sgtimgR、sgtimgG、sgtimgB进行图像融合处理，获得图像trgimg；

S6，对trgimg进行特征提取，获得特征信息；

S7，基于特征信息判断电源芯片的引脚是否通过质量检测。

优选地，所述S1包括：

使用工业相机获取电源芯片的引脚的外观图像。

优选地，所述S3包括：

对于图像I，I∈{imgR,imgG,imgB}，降噪方式如下：

使用中值滤波算法分别对图像I中的每个像素点进行降噪处理，获得图像midI；

根据设定的获取算法获取图像midI中的待处理像素点的集合U；

使用改进的双边滤波算法分别对集合U中的每个像素点进行降噪处理，获得降噪后的图像lwnsI。

优选地，所述根据设定的获取算法获取图像midI中的待处理像素点的集合U，包括：

将像素点pix在图像I中的像素值记为，将像素点pix在图像midI中的像素值记为；

采用如下公式计算素点pix的变化系数：

式中，表示变化系数，表示预设的像素值变化标准值；