[发明专利]一种切割道中心检测方法与系统有效
| 申请号: | 202210526501.8 | 申请日: | 2022-05-16 |
| 公开(公告)号: | CN114627141B | 公开(公告)日: | 2022-07-22 |
| 发明(设计)人: | 袁慧珠;张明明;孟繁滨;魏哲;张海岩;徐双双;石文 | 申请(专利权)人: | 沈阳和研科技有限公司 |
| 主分类号: | G06T7/11 | 分类号: | G06T7/11;G06T5/40;G06T7/13;G06T7/70 |
| 代理公司: | 沈阳易通专利事务所 21116 | 代理人: | 于丽丽 |
| 地址: | 110000 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 切割 中心 检测 方法 系统 | ||
1.一种切割道中心检测方法,其特征在于:所述检测方法包括如下步骤:
通过划片机的自动对准程序得到目标图案位置,根据目标图案和偏移,划片机的镜头移动到切割道位置,完成切割道位置的确定;
通过所述镜头拍摄进行采集切割道图像并设定感兴趣区域;
提取图像感兴趣区域内的像素点及特征点;
分别对图像感兴趣区域内的每一列中的特征点,在其对称位置寻找对应点,并根据对称点得分公式计算保存满足条件的点对,所述的对称点得分公式为:s=cos(ri)cos(rj)-sin(ri)sin(rj),对称点得分公式中的s为score代表得分,对称点得分公式中的ri、rj为特征点与水平方向的夹角;
取满足条件的点对的中点,在图像中Y轴方向进行累计;
找到累计最多的像素点,计算该最多的像素点累计值与图像中X轴方向像素点数的比值;此比值如大于0.8,则取图像中Y轴方向的所有点的平均值作为结果输出,即为最终所检测出的切割道中心。
2.根据权利要求1所述的一种切割道中心检测方法,其特征在于:所述提取图像感兴趣区域内的像素点及特征点的步骤包括:根据sobel算子计算出图像的梯度值并提取高于最小梯度值的像素点进行累计;依据facet模型提取特征点,特征点包括位置信息、梯度信息。
3.根据权利要求2所述的一种切割道中心检测方法,其特征在于:所述根据sobel算子计算出图像的梯度值并提取高于最小梯度值的像素点进行累计步骤中的最小梯度值的确定方法为:对所述根据sobel算子计算出的图像的梯度值进行直方图统计,找到累计概率为0.85所对应的梯度值作为最小梯度值。
4.一种切割道中心检测系统,其特征在于:所述检测系统包括切割道位置确定单元、切割道图像采集设定单元、图像关键点提取单元、点对保存单元、点对中点累计单元、计算输出单元;
所述切割道位置确定单元,用于通过划片机的自动对准程序得到目标图案位置,根据目标图案和偏移,划片机的镜头移动到切割道位置,完成切割道位置的确定;
所述切割道图像采集设定单元,用于通过所述镜头拍摄进行采集切割道图像并设定感兴趣区域;
所述图像关键点提取单元,用于提取图像感兴趣区域内的像素点及特征点;
所述点对保存单元,用于分别对图像感兴趣区域内的每一列中的特征点,在其对称位置寻找对应点,并根据对称点得分公式计算保存满足条件的点对,所述的对称点得分公式为:s=cos(ri)cos(rj)-sin(ri)sin(rj),对称点得分公式中的s为score代表得分,对称点得分公式中的ri、rj为特征点与水平方向的夹角;
所述点对中点累计单元,用于取满足条件的点对的中点,在图像中Y轴方向进行累计;
所述计算输出单元,用于找到累计最多的像素点,计算该最多的像素点累计值与图像中X轴方向像素点数的比值;此比值如大于0.8,则取图像中Y轴方向的所有点的平均值作为结果输出,即为最终所检测出的切割道中心。
5.根据权利要求4所述的一种切割道中心检测系统,其特征在于:所述图像关键点提取单元包括像素点提取单元、特征点提取单元;所述像素点提取单元,用于根据sobel算子计算出图像的梯度值并提取高于最小梯度值的像素点进行累计;所述特征点提取单元,用于依据facet模型提取特征点,特征点包括位置信息、梯度信息。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于沈阳和研科技有限公司,未经沈阳和研科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210526501.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





