[发明专利]一种基于FOPLP先进封装的可控硅器件在审
申请号: | 202210175490.3 | 申请日: | 2022-02-25 |
公开(公告)号: | CN114582756A | 公开(公告)日: | 2022-06-03 |
发明(设计)人: | 张兴杰;程万坡;钦彪 | 申请(专利权)人: | 江苏韦达半导体有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L27/02 |
代理公司: | 北京康达联禾知识产权代理事务所(普通合伙) 11461 | 代理人: | 何浩 |
地址: | 225000 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 foplp 先进 封装 可控硅 器件 | ||
本发明公开了一种基于FOPLP先进封装的可控硅器件,包括连接收纳机构、稳定安置机构、封装加固机构和夹层保护机构,所述连接收纳机构的顶端设置有稳定安置机构,且稳定安置机构的上方设置有封装加固机构,所述封装加固机构的内部四周设置有夹层保护机构。该基于FOPLP先进封装的可控硅器件检修机构外部结构示意图,在此可控硅器件完成封装进入储存或使用时,可将搭载轴进行旋转,同时带动其一侧外壁固定连接的三组引脚,进行旋转,让三组引脚在旋转翻折过程中进入底座底面所开设的收纳槽内,完成引脚的回收,完成未安装使用情况下其引脚的收纳,防止在此可控硅安装前或移动中出现引脚损坏影响正常的使用,起到保护作用。
技术领域
本发明涉及可控硅技术领域,具体为一种基于FOPLP先进封装的可控硅器件。
背景技术
可控硅简称SCR,是一种大功率电器元件,也称晶闸管,它具有体积小、效率高、寿命长等优点,在自动控制系统中,可作为大功率驱动器件,实现用小功率控件控制大功率设备,它在交直流电机调速系统、调功系统及随动系统中得到了广泛的应用,而FOPLP则是芯片半导体封装工艺,其安装半导体集成电路芯片用的外壳,起着安放、固定、密封、保护芯片和增强电热性能的作用,而且还是沟通芯片内部世界与外部电路的桥梁。
市场上的可控硅器件在使用中,在进行使用和安装时,由于内部芯片在封装过程中与外部引脚的连接多为固定式样,且大多数引脚都是等距排列于封装外壳的边缘,无论是在运输还是使用安装过程中都可能存在损坏的现象,十分影响可控硅器件的使用过程,为此,我们提出一种基于FOPLP先进封装的可控硅器件。
发明内容
本发明的目的在于提供一种基于FOPLP先进封装的可控硅器件,以解决上述背景技术中提出的在进行使用和安装时,由于内部芯片在封装过程中与外部引脚的连接多为固定式样,且大多数引脚都是等距排列于封装外壳的边缘,无论是在运输还是使用安装过程中都可能存在损坏的现象,十分影响可控硅器件的使用过程的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种基于FOPLP先进封装的可控硅器件,包括连接收纳机构、稳定安置机构、封装加固机构和夹层保护机构,所述连接收纳机构的顶端设置有稳定安置机构,且稳定安置机构的上方设置有封装加固机构,所述封装加固机构的内部四周设置有夹层保护机构,所述连接收纳机构包括底座、收纳槽、转轴、搭载轴、引脚、焊接口、衔接梁和触点,且底座的底面分布有收纳槽,所述底座的一端两侧嵌入有转轴,且转轴的中部连接有搭载轴,所述搭载轴的一侧分布有引脚,且引脚的一端端末设置有焊接口,所述搭载轴的两一侧设置有衔接梁,且衔接梁的一侧外壁分布有触点。
进一步的,所述搭载轴通过转轴与底座构成旋转结构,且引脚与搭载轴之间为固定连接。
进一步的,所述衔接梁与稳定安置机构之间相连接,且触点沿着衔接梁一侧外壁等距分布。
进一步的,所述稳定安置机构包括底壳、半导体、加强筋、嵌入槽、安置垫片、胶质条和安装孔,且底壳的顶端内部设置有半导体,所述底壳的两侧内壁分布有加强筋,且底壳的一端内壁开设有嵌入槽,所述嵌入槽四周内壁嵌入有安置垫片,且安置垫片的四周外壁贴合有胶质条,所述安置垫片的内部设置有安装孔。
进一步的,所述安置垫片与底壳、半导体之间为固定连接,且加强筋沿着底壳两侧内壁均匀分布。
进一步的,所述封装加固机构包括上壳体、封装线、开孔、预留槽、顶柱、斜撑梁、软胶垫和通气孔,且上壳体的底端四周设置有封装线,所述上壳体的底端一侧开设有预留槽,且上壳体的底端内部设置有顶柱,所述顶柱的两侧外壁连接有斜撑梁,且顶柱的底端外壁设置有软胶垫,所述软胶垫的内部两侧分布有通气孔。
进一步的,所述上壳体与稳定安置机构之间为固定连接,且斜撑梁沿着顶柱两侧外壁对称分布。
进一步的,所述顶柱与上壳体、软胶垫之间为固定连接,且通气孔沿着软胶垫内部两侧对称分布。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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