[发明专利]大尺寸钨酸铋晶体的助熔剂生长方法及应用在审
申请号: | 202210110657.8 | 申请日: | 2022-01-29 |
公开(公告)号: | CN114561704A | 公开(公告)日: | 2022-05-31 |
发明(设计)人: | 田相鑫;刘敬权 | 申请(专利权)人: | 临沂大学 |
主分类号: | C30B29/32 | 分类号: | C30B29/32;C30B28/02;C30B9/12;G01T1/202;G02F1/355 |
代理公司: | 天津睿勤专利代理事务所(普通合伙) 12225 | 代理人: | 孟福成 |
地址: | 276005 山东省临*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 尺寸 钨酸铋 晶体 熔剂 生长 方法 应用 | ||
本发明提供了一种大尺寸钨酸铋晶体的助熔剂生长方法及应用,晶体生长料的预制,预先合成目标晶体的多晶,将多晶与助熔剂进行充分混合获得晶体生长料;或者不经目标晶体的多晶合成,直接将原料按照目标晶体的化学计量比进行配料,与助熔剂进行充分混合,获得晶体生长料;目标晶体的助熔剂生长,先无籽晶生长,后籽晶生长,获得目标晶体。本发明所需条件容易达到,操作简单,生长周期在20天左右可以获得30mm×30mm×2mm的大尺寸单晶,基本满足加工和物理性质表征的要求。采用的助熔剂不含高毒元素,且均可以在市场方便够得,价格低廉,生长过程中产生的废渣对环境的污染和损害较小。
技术领域
本发明属于闪烁晶体技术领域,特别涉及一种大尺寸钨酸铋晶体的助熔剂生长方法及应用。
背景技术
闪烁晶体是指可以将难以直接探测的高能粒子以及高能射线(如高速带电粒子、X射线、γ射线、中子等)转化为可以被光电探测器直接检测的可见光或近紫外光的晶体。根据闪烁晶体的光电特性,可以将闪烁晶体与光电倍增管(PMT)、光电二极管(PD)以及雪崩二极管(APD)等光电元件进行耦合制备闪烁探测器,在高能物理、生物医学检测、工业勘探、安全检查等领域具有重要的应用。例如,在高能物理方面,2015年发射升空的暗物质粒子探测卫星“悟空”上的核心部件就是由308根25×25×600mm3的Bi4Ge3O12(BGO)晶体构成的探测器;在临床医学领域,目前广泛用于心脑血管领域和肿瘤等重大疾病的早期发现和诊断的PET-CT检查中,核心部件就是由闪烁晶体(BGO晶体、LuxY2-xSiO5:Ce(LYSO:Ce)晶体、LaBr3晶体、Gd3Al2Ga3O12(GAGG)晶体等)组成的阵列,闪烁晶体的性能是影响成像质量的决定性因素;在工业生产领域,工业断层扫描已经成为探测材料缺陷必不可少的手段。目前,闪烁晶体是人工晶体材料领域具有重大应用前景的材料之一,也是目前研究的重要领域。
在闪烁晶体的发光机理上,闪烁晶体吸收高能粒子或者高能射线的能量,使得晶体中处于基态的电子跃迁到不稳定的激发态,产生大量的电子和空穴,电子和空穴迁移到发光中心并将携带的能量传递给发光中心,电子和空穴发生复合,辐射出一定紫外或者可见光波段的荧光光子,经光电倍增管被光电探测器检测。也正是由于这个原因,闪烁晶体对不同波段光子的具体响应机制也有不同,从而可以实现对不同能量入射光子的分辨。能量分辨率是衡量闪烁晶体性能的一项重要指标,好的闪烁晶体应该具有高的能量分辨率。此外,表征闪烁晶体性能的主要参数还有光谱响应、光输出(光产额)、衰减时间、光学透过范围以及抗辐照能力等。其中,光谱响应值得是闪烁晶体在高能粒子/射线作用下产生的荧光脉冲应当处于成熟探测器的探测范围之内,这样才能实现闪烁晶体与光电探测器的最优匹配。光输出(光产额)衡量的是闪烁晶体将入射能量转化为发射的荧光脉冲能量的本领,也是衡量闪烁晶体闪烁性能的最重要指标之一。衰减时间是指闪烁晶体产生的荧光光子数衰减到最大荧光光子数的1/e所需要的时间,衰减时间越长,闪烁晶体在工作时因能量堆积造成的探测信号堵塞就越严重,闪烁性能就越差。因此,好的闪烁晶体一般要求尽可能小的衰减时间,而且没有余辉或者余辉很微弱。光学透过范围与闪烁晶体的禁带宽度是直接相关的,为了避免严重的自吸收,闪烁晶体发射的荧光波长应该处于晶体的光学透过范围之内。抗辐照能力指的是晶体在高能粒子/射线作用下能够长期稳定工作的能力,又称之为辐照硬度。此外,好的闪烁晶体还应当具有高的密度和有效原子序数,尽可能提高对高能粒子/射线的吸收阻止能力;还应当具有良好的环境稳定性,不分解,不潮解,能够满足长期使用的要求。
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