[实用新型]一种碳化硅晶片腐蚀用吊篮有效
申请号: | 202120109601.1 | 申请日: | 2021-01-15 |
公开(公告)号: | CN213635930U | 公开(公告)日: | 2021-07-06 |
发明(设计)人: | 乔晓杰;李欢 | 申请(专利权)人: | 山东晶升电子科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/673 | 分类号: | H01L21/673;C30B33/10;C30B29/36 |
代理公司: | 济南龙瑞知识产权代理有限公司 37272 | 代理人: | 张俊涛 |
地址: | 250013 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 碳化硅 晶片 腐蚀 吊篮 | ||
本实用新型涉及芯片生产技术领域,特别公开了一种碳化硅晶片腐蚀用吊篮。它包括两个竖立的框架,两个框架的上端通过连接板连接,连接板上设有吊杆,两个框架的下端通过两根横向连接杆连接,两根横向连接杆相对的一侧设有卡槽。本实用新型设置了若干卡槽,相对的两个卡槽之间可以放一个晶圆片,这样就可以放置若干个晶圆片,提高了检测效率;另外,把横向连接杆设置成与框架下端之间滑动连接,可以调节两根横向连接杆之间的距离,以适应不同规格晶圆片的需要;本实用新型还设置了弧形槽和花键,使用时将花键与设备上的花键槽配合,这样可以对旋转过程中的框架起到稳定作用,有利于晶圆片的腐蚀试验。
技术领域
本实用新型涉及芯片生产技术领域,特别涉及一种碳化硅晶片腐蚀用吊篮。
背景技术
碳化硅晶片也叫晶圆片,它是半导体集成和封装的基础材料,需求日益旺盛,但晶圆片KOH腐蚀实验,目前市场尚无成型的设备,一般为自行搭建的简易装置,只能进行简单实验,存在诸多缺陷,控温不稳定,温场不均匀,KOH腐蚀效果不好,易发生安全事故等;为此申请人发明了一种KOH腐蚀试验设备,它将晶圆片放到圆形的镍篮(就是吊篮)内,然后将镍篮放到装有腐蚀液体的坩埚内,通过加热、旋转等一系列辅助动作,进行腐蚀试验。在上述设备中还存在如下缺陷:1它的镍篮实际上就是一个盘子,每次只能放置一个晶圆片进行腐蚀实验,因此效率很低。2镍篮仅靠一个吊杆吊着,缺乏稳定措施,在旋转过程中容易发生扭曲,影响实验效果。
发明内容
本实用新型为了弥补现有技术的缺陷,提供了一种同时对多块晶圆片进行腐蚀试验、从而提高生产效率的碳化硅晶片腐蚀用吊篮。
本实用新型是通过如下技术方案实现的:
一种碳化硅晶片腐蚀用吊篮,其特征是,包括两个竖立的框架,两个框架的上端通过连接板连接,所述连接板上设有吊杆,两个框架的下端之间通过两根横向连接杆连接,两根横向连接杆相对的一侧设有若干卡槽。
所述横向连接杆与框架下端之间滑动连接,并配套有紧固螺栓。
所述框架的上下端分别外接一个圆形框,每个圆形框滑动连接两个弧形槽,每一侧的上下两个弧形槽之间通过纵向连接杆固定连接;所述纵向连接杆上设有花键。
位于上方的两个所述弧形槽分别开有盲孔,两个盲孔之间通过活动杆连接,所述活动杆两端分别设有能插进盲孔的插柱。
所述圆形框上设有环形滑槽,所述弧形槽内壁设有滑块。
本实用新型的有益效果是:
本实用新型设置了若干卡槽,相对的两个卡槽之间可以放一个晶圆片,这样就可以放置若干个晶圆片,也就是说一次可以对若干个晶圆片进行腐蚀试验,提高了检测效率;另外,把横向连接杆设置成与框架下端之间滑动连接,可以调节两根横向连接杆之间的距离,以适应不同规格晶圆片的需要;本实用新型还设置了弧形槽和花键,使用时将花键与设备上的花键槽配合,这样可以对旋转过程中的框架起到稳定作用,有利于晶圆片的腐蚀试验。
附图说明
下面结合附图对本实用新型作进一步的说明:
图1为本实用新型的主视结构示意图;
图2为本实用新型的右视结构示意图;
图3为本实用新型的俯视结构示意图;
图4为弧形槽的俯视结构示意图;
图5为图4中A-A向的截面结构示意图
图6为图2中B-B向的截面结构示意图;
图7为活动杆的主视结构示意图。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造