[发明专利]一种风电机组基础缺陷位置的分析方法及装置、存储介质在审

专利信息
申请号: 202111513028.1 申请日: 2021-12-11
公开(公告)号: CN114387216A 公开(公告)日: 2022-04-22
发明(设计)人: 刘智超;白雪峰;刘晨明;张磊;陈树桥 申请(专利权)人: 蒙东协合扎鲁特旗风力发电有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/70;G06T17/05;G06K9/00;G06V10/143;G06V10/56;G01J5/48
代理公司: 北京中强智尚知识产权代理有限公司 11448 代理人: 黄耀威
地址: 029199 内蒙古自*** 国省代码: 内蒙古;15
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摘要:
搜索关键词: 一种 机组 基础 缺陷 位置 分析 方法 装置 存储 介质
【说明书】:

本申请公开了一种风电机组基础缺陷位置的分析方法及装置、存储介质、计算机设备,该方法包括:获取待检测结构的表面温度,基于所述待检测结构的表面温度,确定异常温度区域,并将所述异常温度区域确定为目标缺陷区域;基于探地雷达,向所述目标缺陷区域发射探测信号,采集对应的探测反射信号,并依据所述探测反射信号确定所述待检测结构的目标缺陷深度。本申请实施例先根据待检测结构的表面温度快速确定目标缺陷区域,再根据探地雷达快速确定目标缺陷区域的目标缺陷深度,可以提高缺陷分析效率、增加缺陷定位准确性。

技术领域

本申请涉及探测技术领域,尤其是涉及到一种风电机组基础缺陷位置的分析方法及装置、存储介质、计算机设备。

背景技术

风电机组基础内部缺陷的存在对于周围环境及人员的安全性具有潜在威胁。现有风电机组基础内部缺陷分析方法主要是超声波法、压电技术法等,然而这些方法并不直观且准确性有待提升,因此,如何准确、直观地确定风电机组基础内部的缺陷,成为了本领域亟待解决的技术问题。

发明内容

有鉴于此,本申请提供了一种风电机组基础缺陷位置的分析方法及装置、存储介质、计算机设备,可以提高缺陷分析效率、增加缺陷定位准确性。

根据本申请的一个方面,提供了一种风电机组基础缺陷位置的分析方法,包括:

获取待检测结构的表面温度,基于所述待检测结构的表面温度,确定异常温度区域,并将所述异常温度区域确定为目标缺陷区域;

基于探地雷达,向所述目标缺陷区域发射探测信号,采集对应的探测反射信号,并依据所述探测反射信号确定所述待检测结构的目标缺陷深度。

可选地,所述基于探地雷达,向所述目标缺陷区域发射探测信号,采集对应的探测反射信号,具体包括:

将所述目标缺陷区域按照预设步长进行划分,确定多个探测位点;

基于所述探地雷达,向任一所述探测位点发射探测信号,并采集所述探测信号对应的至少一个探测反射信号,将每个所述探测反射信号与所述任一所述探测位点进行绑定,得到绑定后的至少一个所述探测反射信号,重复向所述其他探测位点发射探测信号直至所述多个探测位点均得到对应的绑定后的所述探测反射信号时结束。

可选地,所述依据所述探测反射信号确定所述待检测结构的目标缺陷深度,具体包括:

基于所述绑定后的所述探测反射信号,确定所述目标缺陷区域对应的目标三维模型,并基于所述目标三维模型,确定所述待检测结构的目标缺陷深度。

可选地,所述基于所述绑定后的所述探测反射信号,确定所述目标缺陷区域对应的目标三维模型,具体包括:

基于任一所述绑定后的所述探测反射信号对应的所述探测位点,识别所述探测位点对应的坐标值;

依据所述探测位点对应的发射信号的信号发射时间,以及所述探测位点对应的探测反射信号的信号接收时间,确定目标时间差;

基于所述目标时间差以及所述探地雷达的信号传播速度,确定所述探测位点对应的目标反射深度;

基于各个所述探测位点对应的坐标值以及至少一个所述目标反射深度,确定所述目标三维模型。

可选地,所述获取待检测结构的表面温度之前,所述方法还包括:

获取所述待检测结构的表面辐射能值、相对介电常数以及目标材料常数,确定所述待检测结构的表面温度。

可选地,所述基于所述待检测结构的表面温度,确定异常温度区域,具体包括:

基于所述待检测结构的表面温度,分别确定每个所述表面温度对应的温度区域的面积;

将所述面积最大的所述温度区域之外的其他温度区域作为所述异常温度区域。

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