[发明专利]一种不可见光发光二极管及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202111464356.7 申请日: 2021-12-02
公开(公告)号: CN114220894A 公开(公告)日: 2022-03-22
发明(设计)人: 冯彦斌;高文浩;梁倩;吴超瑜 申请(专利权)人: 泉州三安半导体科技有限公司
主分类号: H01L33/30 分类号: H01L33/30;H01L33/14;H01L33/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 362343 福*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 可见光 发光二极管 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.不可见光发光二极管,包括:

半导体外延叠层,具有相对的第一表面和第二表面,自第一表面至第二表面依次包括第一电流扩展层,第一覆盖层、有源层、第二覆盖层;

其特征在于:包含第一Inx1Ga1-x1As层,所述第一Inx1Ga1-x1As层位于所述第一电流扩展层和第一覆盖层之间,所述第一Inx1Ga1-x1As层的x1的范围为0<x1≤0.08。

2.根据权利要求1所述的不可见光发光二极管,其特征在于:所述第一Inx1Ga1-x1As层的厚度为100~1000nm,掺杂浓度为1E+17~4E+18/cm3

3.根据权利要求1所述的不可见光发光二极管,其特征在于:所述第一电流扩展层为Aly1Ga1-y1As,所述y1的范围为0≤y1≤0.25。

4.根据权利要求3所述的不可见光发光二极管,其特征在于:所述第一电流扩展层的厚度为5~9um;掺杂浓度为1E+17~4E+18/cm3

5.根据权利要求1所述的不可见光发光二极管,其特征在于:还包含第一In含量过渡层,位于所述第一电流扩展层和第一Inx1Ga1-x1As层之间,所述第一In含量过渡层的In含量自所述第一电流扩展层至第一Inx1Ga1-x1As层方向In含量为逐渐增加。

6.根据权利要求5所述的不可见光发光二极管,其特征在于:所述第一In含量过渡层的In含量自所述第一电流扩展层至第一Inx1Ga1-x1As层方向In含量为线性增加的或者分段性增加。

7.根据权利要求1所述的不可见光发光二极管,其特征在于:还包含第二电流扩展层,位于所述第二覆盖层之上,所述第二电流扩展层为Aly2Ga1-y2As,所述y2的范围为0≤y2≤0.25。

8.根据权利要求7所述的不可见光发光二极管,其特征在于:所述第二电流扩展层的厚度为0~3um;掺杂浓度为1E+17~4E+18/cm3

9.根据权利要求7所述的不可见光发光二极管,其特征在于:还包含第二Inx2Ga1-x2As层,所述第二Inx2Ga1-x2As层位于第二覆盖层和第二电流扩展层之间,所述第二Inx2Ga1-x2As层的In含量为0<x2≤0.08。

10.根据权利要求9所述的不可见光发光二极管,其特征在于:所述第二Inx2Ga1-x2As层的厚度为100~1000nm,掺杂浓度为1E+17~4E+18/cm3

11.根据权利要求9所述的不可见光发光二极管,其特征在于:还包含第二In含量过渡层,位于所述第二覆盖层和第二Inx2Ga1-x2As层之间,所述第二In含量过渡层的In含量自所述第二覆盖层至第二Inx2Ga1-x2As层方向In含量为逐渐增加。

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