[发明专利]一种CVT电容单元击穿缺陷试验方法及装置

说明书

本发明公开了一种CVT电容单元击穿缺陷试验方法及装置，该方法包括：采集待测CVT在额定电压范围以内的正常运行数据；在所述待测CVT的电容分压器间设置多个控制开关，使多个待模拟击穿电容处于预击穿状态；对所述多个待模拟击穿电容进行击穿模拟试验，采集击穿时的故障运行数据；将所述正常运行数据与所述故障运行数据进行对比分析，生成CVT电容单元击穿缺陷试验结果。本发明提供的CVT电容单元击穿缺陷试验方法，能够模拟运行电压下CVT电容单元击穿的瞬间，并通过示波器及时采集CVT故障信息，以为后续的CVT故障分析提供条件，有利于提高电网设备的使用寿命和维护电网系统的稳定运行。

技术领域

本发明涉及CVT故障分析技术领域，尤其涉及一种CVT电容单元击穿缺陷试验方法及装置。

背景技术

CVT，即电容式电压互感器，凭借其自身的优选性在110kV及以上的电力系统中得到了广泛应用。CVT的稳定运行关乎整个电网系统的安全，一旦CVT发生故障或者缺陷，就可能导致电压测量不准确，引起保护误动等后果，进而给电网造成重大的经济损失。

为实现CVT缺陷的实时监测及故障预警，现有的CVT电容单元击穿缺陷的识别方法主要有两种：第一种是停电预试测量CVT电容量，当电容量的偏差达到一定范围则认为CVT电容单元击穿。但是CVT的停电预试一般3-6年才能进行一次，在预试周期内若出现缺陷就无法及时发现，进而会导致设备故障停运等严重后果。第二种则是等到CVT电容单元击穿到一定程度导致电压偏差较大，后台报警后再进行原因排查。然而，当电压偏差较大时往往已经击穿很多个电容单元，而当电容单元击穿达到一定数量时，容易导致CVT的电容分压器发生崩溃式的击穿，同样会引发设备故障和系统停运的后果。

由此可见，这两种CVT电容单元击穿缺陷的识别方法均不能及时发现CVT缺陷，而针对导致CVT故障的运行数据也无法有效提取，因此也无法为分析导致CVT缺陷的根本原因提供事实依据。

发明内容

本发明的目的在于提供一种CVT电容单元击穿缺陷试验方法及装置，以解决现有的CVT电容单元击穿缺陷的识别方法不能及时发现CVT缺陷和提取故障信息，进而导致缺陷发展最终引发设备故障，使电网系统无法稳定运行的问题。

为实现上述目的，本发明提供一种CVT电容单元击穿缺陷试验方法，包括：

采集待测CVT在额定电压范围以内的正常运行数据；

在所述待测CVT的电容分压器间设置多个控制开关，使多个待模拟击穿电容处于预击穿状态；

对所述多个待模拟击穿电容进行击穿模拟试验，采集击穿时的故障运行数据；

将所述正常运行数据与所述故障运行数据进行对比分析，生成CVT电容单元击穿缺陷试验结果。

进一步，作为优选地，所述采集待测CVT在额定电压范围以内的正常运行数据，包括：

采集待测CVT在额定电压范围以内工作的一次电压波形、二次绕组电压波形以及末屏电流波形。

进一步，作为优选地，所述在所述待测CVT的电容分压器间设置多个控制开关，包括：

将控制开关分为两组分别设置在电容分压器之间，用于分别模拟电容分压器击穿缺陷，其中，每组设有至少一个控制开关，且两组中的控制开关数量不相等。

进一步，作为优选地，所述使多个待模拟击穿电容处于预击穿状态，包括：

在待模拟击穿电容的电极处设置弹性导体，并在所述弹性导体之间设置绝缘体。

进一步，作为优选地，所述对所述多个待模拟击穿电容进行击穿模拟试验，包括：

在待测CVT的高压端施加运行电压；