[发明专利]一种图像质量检测方法及检测系统

说明书

本申请提供的图像质量检测方法及系统，将待检测图像裁剪成不重叠的N块图像，计算每一小块图像的功率谱估计值及平均亮度值，将所述功率谱估计值和所述平均亮度值和预设的阈值进行比对，得到过曝和过暗的区域，通过所述过曝及所述过暗的区域的数量与总区域数量的比值来确定待检测图像是否存在质量问题，本申请提供的图像质量检测方法及系统，能够检测出图像中的曝光、过暗等质量问题，并将其过滤掉，提高了收集图像的整体质量并能够应用在某些识别领域的预处理上，以提高识别精度。

技术领域

本发明属于图像识别技术领域，具体涉及一种图像质量检测方法及图像检测系统。

背景技术

随着计算机视觉技术的不断发展，相关领域对图像质量的要求也越来越高。比如相关从业人员每天会接触到大量的图像数据；又比如人们在做人脸识别等相关操作前也需要做图像质量判断，将符合标准的图像进行识别操作等。现有图像质量检测的精度、速度不够。

发明内容

鉴于此，有必要针对现有技术存在的缺陷提供一种图像质量检测精度较高、速度较快的图像质量检测方法。

为解决上述问题，本发明采用下述技术方案：

本申请提供了一种图像质量检测方法，包括下述步骤：

将待检测图像裁剪成不重叠的N块图像；

计算每一小块图像的功率谱估计值；

计算每一小块图像的平均亮度值；

将所述功率谱估计值和所述平均亮度值和预设的阈值进行比对，得到过曝和过暗的区域；

通过所述过曝及所述过暗的区域的数量与总区域数量的比值来确定待检测图像是否存在质量问题。

在其中一些实施例中，在计算每一小块图像的功率谱估计值的步骤中，具体包括下述步骤：

将小块图像做傅里叶变换得到频谱；

根据所述频谱计算功率谱；

对所述功率谱中心化处理；

将中心化处理后的功率谱一维化得到低频区域和高频区域；

分别计算所述低频区域的总值和高频区域的总值，并将二者的比值作为功率谱估计值。

在其中一些实施例中，在计算每一小块图像的平均亮度值的步骤中，具体包括下述步骤：

将小块图像转为HSV，提取V通道的平均值作为图像的平均亮度值。

在其中一些实施例中，在将所述功率谱估计值和所述平均亮度值和预设的阈值进行比对，得到过曝和过暗的区域的步骤中，具体包括：

所述阈值包括功率谱过曝阈值、功率谱过暗阈值、平均亮度过曝阈值和平均亮度过暗阈值：

将所述功率谱估计值和所述平均亮度值和预设的阈值进行比对，当同时满足所述功率谱估计值小于所述功率谱过曝阈值和所述平均亮度值大于所述平均亮度过曝阈值认定该区域为过曝区域；

当同时满足所述功率谱估计值大于所述功率谱过暗阈值和所述平均亮度值小于所述平均亮度过暗阈值认定该区域为过暗区域。

在其中一些实施例中，在通过所述过曝及所述过暗的区域的数量和与总区域数量的比值来确定待检测图像是否存在质量问题的步骤中，具体包括：

所述过曝及所述过暗的区域的数量和与总区域数量的比值大于所述阈值时，所述待检测图像存在质量问题。

另外，本申请还提供了一种图像质量检测系统，包括：

图像裁剪模块，用于将待检测图像裁剪成不重叠的N块图像；