[发明专利]一种单片式硅片使用有机酸的清洗方法在审

专利信息
申请号: 202110849318.7 申请日: 2021-07-27
公开(公告)号: CN113658851A 公开(公告)日: 2021-11-16
发明(设计)人: 杉原一男;贺贤汉;赵剑锋 申请(专利权)人: 上海中欣晶圆半导体科技有限公司
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02
代理公司: 上海申浩律师事务所 31280 代理人: 赵建敏
地址: 200444 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 单片 硅片 使用 有机酸 清洗 方法
【权利要求书】:

1.一种单片式硅片使用有机酸的清洗方法,其特征在于:包括如下步骤:

步骤一、准备喷射清洗液用的喷嘴;

步骤二、制定喷射清洗顺序:

清洗顺序一、

清洗顺序二、和

清洗方式为:仅重复清洗顺序一,仅重复清洗顺序二或者使用清洗顺序一和二的组合方式;

步骤三、用纯水对旋转中的硅片进行喷雾以去除表面的药液;

步骤四、采用N2吹扫并高速旋转硅片使其干燥。

2.根据权利要求1所述的一种单片式硅片使用有机酸的清洗方法,其特征在于:步骤一所述的喷嘴包括用于喷射臭氧水或者DHF的普通喷嘴,以及用于喷射有机酸或者DHF和有机酸混合液的二流体喷嘴。

3.根据权利要求1所述的一种单片式硅片使用有机酸的清洗方法,其特征在于:DHF和有机酸混合液的制备方法:于HF槽中加入适量的49wt%氢氟酸、31wt%柠檬酸和常温去离子水,在配有颗粒滤芯的前提下,内循环数小时,得到0.1~1.0vol%的DHF和0.1~3.0vol%的有机酸混合液。

4.根据权利要求1所述的一种单片式硅片使用有机酸的清洗方法,其特征在于:所述有机酸或者DHF和有机酸混合液的喷射压力:液压0.1~0.3MPa,空气压0.1~0.5MPa;喷射流量:1.0~20l/hr;每循环一次喷射时间:1~120sec。

5.根据权利要求1所述的一种单片式硅片使用有机酸的清洗方法,其特征在于:所述臭氧水或者DHF的喷射压力:液压0.001~0.1MPa;喷射流量:0.5~3.0l/min;每循环一次喷射时间:1~120sec。

6.根据权利要求1所述的一种单片式硅片使用有机酸的清洗方法,其特征在于:步骤四中所述N2为99.99~99.9999%高纯度氮气。

7.根据权利要求1所述的一种单片式硅片使用有机酸的清洗方法,其特征在于:步骤四中所述高速旋转的回转数:1000~2000rpm。

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