[发明专利]一种判断触点组差平面高度数据匹配程度的方法

说明书

本申请提供一种判断触点组差平面高度数据匹配程度的方法，包括以下步骤：获取动触点表面图像，得到第一图像；获取静触点表面图像，得到第二图像；提取第一图像的第一高度数据集，提取第二图像的第二高度数据集；构建第一高度数据集与第二高度数据集的梯度方向差值云图；以设定角度阈值范围θ_threshold对梯度方向差值云图进行处理，得到梯度方向差值云图的接触特征轮廓；提取第一图像的接触特征轮廓；提取第二图像的接触特征轮廓；根据梯度方向差值云图的接触特征轮廓、第一图像以及第二图像的接触特征轮廓确定差平面高度数据匹配程度。本申请提供一种判断触点组差平面高度数据匹配程度的方法解决了无法直观确定差平面高度数据匹配程度的问题，为后续的高度数据校准工作提供了初期预判信息。

技术领域

本公开一般涉及可靠性试验技术领域，具体涉及一种判断触点组差平面高度数据匹配程度的方法。

背景技术

建立继电器触点组高度数据的差平面是研究继电器可靠性的一个关键步骤，建立差平面的方式具体为：以静触点高度数据还原的三维曲面为参考，对动触点高度数据还原的三维曲面做镜像对称，将此时动触点和静触点的高度数据矩阵相加，以动、静触点高度数据的和的最大值所在的平面作为基准面，求得两触点表面高度和与基准面的差值建立高度数据的差平面。

继电器触点组的高度数据与继电器的可靠性研究联系紧密，通过触点组中高度数据建立的差平面能够反映动、静触点接触后表面发生的形变和接触斑点等信息，对求解继电器的电气参数和表面几何参数尤为重要。

由于触点组高度数据的差平面对动、静触点两者表面的高度数据点要求一一对应，因此其经常会因为触点组中动、静触点放置在三维形貌扫描仪的位置差异，造成所获取的动、静触点接触面高度数据的位置点存在偏差，使得动、静触点高度数据不匹配，这种因位置差异带来的触点组高度数据的不匹配缺少直观且有效的观察方法。

发明内容

鉴于现有技术中的上述缺陷或不足，期望提供一种可解决上述技术问题的一种判断触点组差平面高度数据匹配程度的方法。

本申请提供一种判断触点组差平面高度数据匹配程度的方法，包括以下步骤：

获取动触点表面图像，得到第一图像；

获取静触点表面图像，得到第二图像；

提取所述第一图像的第一高度数据集{h_d(1,1)，...，h_d(x,y)，...，h_d(m,n)}，其中所述第一高度数据集具有m行、n列；h_d(x,y)为所述第一高度数据集空间位置坐标为(x，y)的点所对应的高度值；

提取所述第二图像的第二高度数据集{h_j(1,1)，...，h_j(x,y)，...，h_j(m,n)}，其中所述第二高度数据集具有m行、n列；h_j(x,y)为所述第一高度数据集空间位置坐标为(x，y)的点所对应的高度值；

构建所述第一高度数据集与所述第二高度数据集的梯度方向差值云图；

以设定角度阈值范围θ_threshold对所述梯度方向差值云图进行处理，得到所述梯度方向差值云图的接触特征轮廓；

提取所述第一图像的接触特征轮廓；

提取所述第二图像的接触特征轮廓；

根据所述梯度方向差值云图的接触特征轮廓、第一图像以及第二图像的接触特征轮廓确定所述差平面高度数据匹配程度。

根据本申请实施例提供的技术方案，通过所述梯度方向差值云图的接触特征轮廓、第一图像以及第二图像的接触特征轮廓判断所述差平面高度数据匹配程度的方法具体为：