[发明专利]一种基于高频Lamb波频域信息的结构表面缺陷探测方法有效

专利信息
申请号: 202110671060.6 申请日: 2021-06-17
公开(公告)号: CN113406202B 公开(公告)日: 2023-07-21
发明(设计)人: 胡暮平;杨博;刘浩宇;杨文平;何建 申请(专利权)人: 哈尔滨工程大学
主分类号: G01N29/04 分类号: G01N29/04;G01N29/12;G01N29/46
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 高频 lamb 波频域 信息 结构 表面 缺陷 探测 方法
【权利要求书】:

1.一种基于高频Lamb波频域信息的结构表面缺陷探测方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤1:取待检测结构的无表面缺陷的试样,在其表面布置一组激励器和接收器;

步骤2:获取试样在无表面缺陷时,接收器接收到的由激励器产生的离散Lamb波信号rn=r(nΔt),n=0,1,...,N-1,N为采样点总数;Δt为采样间隔;

步骤3:在试样上构造不同深度的表面缺陷,表面缺陷位于激励器与接收器之间,计算损伤指标β,并绘制损伤深度d-损伤指标β曲线;

所述的损伤指标β的计算方法为:

步骤3.1:获取接收器接收到的由激励器产生的离散Lamb波信号xn=x(nΔt);

步骤3.2:对离散Lamb波信号xn进行带通滤波,消除非目标频率分量的影响,得到滤波后的离散信号yn

步骤3.3:对信号yn进行离散傅里叶变换,得到Yk

步骤3.4:计算损伤指标β;

其中,Rk为对试样在无表面缺陷时,接收器接收到的离散Lamb波信号rn进行离散傅里叶变换得到的结果;

步骤4:在待检测结构的表面一侧布置一排激励器,在另一侧布置一排接收器,接收器与激励器一一对应;通过计算每组激励器-接收器的损伤指标β,检测每组激励器与接收器连线上是否存在表面缺陷,并根据损伤深度d-损伤指标β曲线获取损伤深度d的估计值。

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