[发明专利]检测方法及装置、检测设备和存储介质

说明书

本申请提供一种检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质。检测方法包括匹配待测图像和预设的模板图像，以获取第一图像区域；识别所述第一图像区域的连通域，以生成连通域图像；获取所述待测图像中与所述连通域图像对应的第二图像区域；比对所述第二图像区域和所述连通域图像，以检测所述待测图像的缺陷。检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质通过对待测图像整体匹配后、再对待测图像中的每个待测部分精准匹配，可提升待测图像和模板图像的匹配效果，然后对每个待测部分和对应的连通域图像进行比对，从而确定每个待测部分的缺陷，完成待测图像的缺陷检测，检测效果较好。

技术领域

本申请涉及检测技术领域，特别涉及一种检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质。

背景技术

在对工件进行检测，以确定工件的缺陷时，可采用模板匹配的方式，将工件的待测区域的图像和标准模板中对应的区域匹配，从而完成待测区域的整体匹配，但当待测区域内的存在发生偏移的部分时，匹配就不再准确，导致模板匹配的检测效果较差。

发明内容

本申请提供了一种检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质。

本申请实施方式的检测方法包括匹配待测图像和预设的模板图像，以获取第一图像区域；识别所述第一图像区域的连通域，以生成连通域图像；获取所述待测图像中与所述连通域图像对应的第二图像区域；比对所述第二图像区域和所述连通域图像，以检测所述待测图像的缺陷。

本申请实施方式的检测装置包括匹配模块、识别模块、获取模块和比对模块。匹配模块用于匹配待测图像和预设的模板图像，以获取第一图像区域；识别模块用于识别所述第一图像区域的连通域，以生成连通域图像；获取模块用于获取所述待测图像中与所述连通域图像对应的第二图像区域；及比对模块用于比对所述第二图像区域和所述连通域图像，以检测所述待测图像的缺陷。

本申请实施方式的检测设备包括处理器。所述处理器用于匹配待测图像和预设的模板图像，以获取第一图像区域；识别所述第一图像区域的连通域，以生成连通域图像；获取所述待测图像中与所述连通域图像对应的第二图像区域；比对所述第二图像区域和所述连通域图像，以检测所述待测图像的缺陷。

本申请实施方式的一种包含计算机程序的非易失性计算机可读存储介质，当所述计算机程序被一个或多个处理器执行时，使得所述处理器执行所述检测方法。所述检测方法包括匹配待测图像和预设的模板图像，以获取第一图像区域；识别所述第一图像区域的连通域，以生成连通域图像；获取所述待测图像中与所述连通域图像对应的第二图像区域；比对所述第二图像区域和所述连通域图像，以检测所述待测图像的缺陷。

本申请的检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质，通过对匹配待测图像和模板图像，得到与待测图像整体匹配的第一图像区域，然后识别第一图像区域中的连通域，以获取一个或多个连通域图像，然后再次匹配连通域图像和待测图像，从而在待测图像中找到与连通域图像对应的第二图像区域，完成待测图像中的每个待测部分(对应第二图像区域)的精准匹配，可提升待测图像和模板图像的匹配效果，然后对每个待测部分和对应的连通域图像进行比对，从而确定每个待测部分的缺陷，完成待测图像的缺陷检测，检测效果较好。

本申请的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请某些实施方式的检测方法的流程示意图；

图2是本申请某些实施方式的检测装置的模块示意图；