[发明专利]一种具有电子减速层结构的紫外发光二极管在审

专利信息
申请号: 202110509342.6 申请日: 2021-05-11
公开(公告)号: CN112993102A 公开(公告)日: 2021-06-18
发明(设计)人: 张雄;范艾杰;胡国华;崔一平 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: H01L33/14 分类号: H01L33/14;H01L33/06
代理公司: 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 代理人: 吴旭
地址: 211189 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 具有 电子 减速 结构 紫外 发光二极管
【权利要求书】:

1.一种具有电子减速层结构的紫外发光二极管,其特征在于,包括由下至上依次设置的衬底(101)、AlN成核层(102)、AlN缓冲层(103)、非掺杂AlGaN缓冲层(104)、n型AlGaN层(105)、B(Al,Ga)N电子减速层(106)、AlxGa1-xN/AlyGa1-yN多量子阱有源区(107)、p型AlGaN层(108)和p型GaN欧姆接触层(109),以及在n型AlGaN层(105)上设置的n型欧姆电极(110)和p型GaN欧姆接触层(109)上设置的p型欧姆电极(111),其中0xy1。

2.根据权利要求1所述的一种具有电子减速层结构的紫外发光二极管,其特征在于,所述B(Al,Ga)N电子减速层(106)由非掺杂或n型掺杂的BAlN、BGaN或BAlGaN层的任何一种构成,并且其禁带宽度始终大于n型AlGaN层(105)的禁带宽度。

3.根据权利要求1所述的一种具有电子减速层结构的紫外发光二极管,其特征在于,所述AlN成核层(102)的厚度为5-50nm,AlN缓冲层(103)的厚度为50-5000nm,非掺杂AlGaN缓冲层(104)的厚度为50-5000nm,n型AlGaN层(105)的厚度为200-5000nm,B(Al,Ga)N电子减速层(106)的厚度为3-50nm,AlxGa1-xN/AlyGa1-yN多量子阱有源区(107)中的AlxGa1-xN量子阱阱宽为1-10nm,AlyGa1-yN势垒厚度为3-30nm,重复周期数为1-50,p型AlGaN层(108)的厚度为20-300nm,p型GaN欧姆接触层(109)的厚度为5-100nm。

4.根据权利要求1所述的一种具有电子减速层结构的紫外发光二极管,其特征在于,所述B(Al,Ga)N电子减速层(106)为组分均匀的单一BAlN、BGaN或BAlGaN层,或为各元素组分渐变的BAlN、BGaN或BAlGaN层,或由各元素组分均匀或组分渐变的BAlN、BGaN或BAlGaN层组合而成的异质结所构成。

5.根据权利要求1所述的一种具有电子减速层结构的紫外发光二极管,其特征在于,所述衬底(101)为可外延生长AlGaN基材料的蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓和氮化铝衬底中的一种。

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