[发明专利]一种半导体测试用芯片触点无静电清理装置

权利要求书

1.一种半导体测试用芯片触点无静电清理装置，包括清理机构（100）、水泵（132）和电机（136），其特征在于：所述清理机构（100）包括壳体（110），所述壳体（110）的内部设置有内板（111），且内板（111）的外侧套设有外板（112），所述内板（111）的两侧皆固定连接有滑块（113），所述外板（112）两侧的内壁上皆开设有滑槽（114），所述滑块（113）皆插设在滑槽（114）内部，所述外板（112）的两侧皆固定连接有螺套（115），且螺套（115）的中部皆插设有螺杆（116），并且螺杆（116）的底端皆通过轴承与壳体（110）内壁相连接，所述壳体（110）的内部设置有第一转杆（117），且第一转杆（117）的两端皆通过轴承架与壳体（110）内壁相连接，所述第一转杆（117）的后侧设置有第二转杆（118），且第二转杆（118）的前端通过轴承架与壳体（110）内壁相连接，所述第二转杆（118）的后端贯穿壳体（110）延伸至壳体（110）后侧，所述内板（111）的顶端固定连接有第一连接杆（119），且第一连接杆（119）的顶端皆固定连接有放置槽（120），所述外板（112）的上方设置有第一隔板（122），且第一隔板（122）的外侧与壳体（110）内壁固定连接，所述螺杆（116）的顶端皆通过轴承与第一隔板（122）相连接，所述第一隔板（122）的表面开设有通槽（123），所述通槽（123）的上方皆设置有转套（124），且转套（124）的内壁上皆固定连接有毛刷（125），所述第一隔板（122）的上方设置有第二隔板（126），且第二隔板（126）的两侧皆与壳体（110）内壁固定连接，所述转套（124）的顶端皆固定连接有输送杆（127），且输送杆（127）的顶端皆贯穿第二隔板（126），所述转套（124）的内部皆开设有输送槽（128），且输送槽（128）皆与输送杆（127）相连通，所述输送槽（128）的底端皆均匀连通有输出口（129），所述壳体（110）的内部设置有输送仓（130），所述输送杆（127）的顶端皆与输送仓（130）相连通，所述输送杆（127）的顶端皆通过轴承与输送仓（130）相连接，所述输送仓（130）的顶端连通有内仓（131），且内仓（131）的顶端贯穿壳体（110）延伸至壳体（110）上方，所述内仓（131）的底端安装有水泵（132），所述内仓（131）的外侧套设有外套（133），且外套（133）的底端固定连接有第一胶塞（134），并且第一胶塞（134）插设在内仓（131）内部，所述第二隔板（126）的顶端设置有第三转杆（135），且第三转杆（135）的两端皆通过轴承架与第二隔板（126）相连接，所述壳体（110）的后侧安装有电机（136），且电机（136）的输出端固定连接有第四转杆（137），所述第二隔板（126）的顶端设置有第五转杆（138），且第五转杆（138）的两端皆通过轴承架与第二隔板（126）相连接，所述内板（111）的正面固定连接有把手（139），所述壳体（110）的外侧安装有防静电保护机构（200）；

所述滑块（113）的一侧皆内嵌有滚珠，且滚珠的一侧皆与滑槽（114）内壁相贴合。

2.根据权利要求1所述的一种半导体测试用芯片触点无静电清理装置，其特征在于：所述放置槽（120）的内部皆设置有滤网（121），且滤网（121）的外侧皆与放置槽（120）内壁固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种半导体测试用芯片触点无静电清理装置，其特征在于：所述外套（133）的外侧均匀固定连接有防滑条。

4.根据权利要求1所述的一种半导体测试用芯片触点无静电清理装置，其特征在于：所述壳体（110）的正面固定连接有外仓（140），且外仓（140）的顶端贯穿有插杆（141），并且插杆（141）的外侧皆固定连接有连接环（142），所述连接环（142）的底端皆固定连接有第一弹簧（143），且第一弹簧（143）的底端皆与外仓（140）固定连接，所述插杆（141）的内部皆通过轴承连接有第六转杆（144），且第六转杆（144）的底端皆固定连接有底板（145），并且底板（145）的底端皆固定连接有抹布（146）。