[发明专利]半导体存储装置

说明书

本发明提供了一种半导体存储装置，可根据使用时的环境，例如电源电压和温度等的变化，适当地控制操作时序。该半导体存储装置，包括检测半导体存储装置的温度的温度感测器、检测半导体存储装置的电源电压的电压检测部，如环形振荡器和计数器，以及根据电源接通后通过温度感测器所检测的温度，以及电源接通后通过电压检测部所检测的电源电压，控制半导体存储装置内的操作时序，以满足特定条件的控制部。

技术领域

本发明与半导体存储装置有关。

背景技术

在半导体存储装置上，例如，动态随机存取存储器(Dynamic Random AccessMemory,DRAM)等，随着信号的传送速度等提高，需要适当地控制操作时序。

例如，在专利文献1记载的技术，电源接通后，从半导体存储装置的有PVT(处理/电源电压/温度)变动相关特性的环形振荡器所输出信号，按照上述输出信号的上升边缘和下降边缘的次数，可以控制内部时脉的操作时序(开始时间和保持时间)。

[先行技术文献]

[专利文献1]美国专利申请公开第2018/0144781号说明书。

发明内容

[发明所解决课题]

顺便一提，环形振荡器有下列的特性。当电源电压越高或温度越高时，所输出信号的上升边缘或下降边缘的次数变得越多；当环形振荡器的电源电压越低或温度越低时，所输出信号的上升边缘或下降边缘的次数变得越少。因此基于从环形振荡器所输出信号的上升边缘或下降边缘的次数，对于半导体存储装置使用时的环境(例如，温度和电源电压等)的各种情境(例如，低温时低电压、低温时高电压、高温时低电压、高温时高电压等)，难以控制操作时序以满足性能要求(规格)。

再者，在专利文献1所记载的技术，由于内部时脉的操作时序的只在电源接通后控制一次，因此依照半导体存储装置使用时的环境的时间变化，而适当地控制操作时序会有变得困难的疑虑。

本发明鉴于上述课题，目的是可以得到一种依照使用时的环境，适当地控制操作时序的半导体存储装置。

为了解决上述课题，本发明提供一种半导体存储装置，包括检测上述半导体存储装置的温度的温度感测器、检测上述半导体存储装置的电源电压的电压检测部，以及依照电源接通后由上述温度感测器所检测的温度，和电源接通后由上述电压检测部所检测的电源电压，控制上述半导体存储装置内的操作时序，以满足特定条件的控制部。

根据本发明，由于依照电源接通后通过温度感测器所检测的温度，和电源接通后通过电压检测部所检测的电源电压，来控制半导体存储装置内的操作时序，以满足特定条件，因此对于温度和电源电压的各种情境(例如，低温时低电压、低温时高电压、高温时低电压、高温时高电压等)，可以控制操作时序，以满足特定条件(例如，性能要求等)。因此，例如，只基于从环形振荡器所输出的信号的上升边缘或下降边缘的次数，以控制操作时序的情况相比，依照使用时环境的操作时序更能适当地控制，因此，可以实现应用于提高传送速度等的性能提升的半导体存储装置。再者，根据本发明，例如，由于可以在每次电源接通后的任何时序，以控制操作时序，因此，依照半导体存储装置使用时的环境的时间变化，可以适当地控制操作时序。

在上述发明中，当上述半导体存储装置电源接通时所执行的电力开启时序中，可以控制上述半导体存储装置的操作时序。

根据本发明中，从电源接通后到半导体存储装置正常运作开始时的期间，基于该半导体存储装置的温度和电源电压，可以适当地控制操作时序。

在上述发明中，当特定指令输入在上述半导体存储装置时，上述控制部可以控制上述半导体存储装置的操作时序。

根据本发明，例如，由于每次特定指令输入在上述半导体存储装置时，基于当输入该指令时的半导体存储装置的温度和电源电压，以适当地控制操作时序，因此依照半导体存储装置使用时的环境的时间变化，可以适当地控制操作时序。