[发明专利]半导体存储装置在审
| 申请号： | 202110295111.X | 申请日： | 2021-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN114649009A | 公开（公告）日： | 2022-06-21 |
| 发明（设计）人： | 森郁 | 申请（专利权）人： | 华邦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C7/04 | 分类号： | G11C7/04;G11C7/22;G11C7/10;G11C11/4096;G11C11/4076 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 王天尧;汤在彦 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 半导体 存储 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种半导体存储装置，其特征在于，包括：
温度感测器，检测该半导体存储装置的温度；
电压检测部，检测该半导体存储装置的电源电压；以及
控制部，根据电源接通后通过该温度感测器18所检测的温度，以及电源接通后通过该电压检测部所检测的电源电压，控制该半导体存储装置内的操作时序，以满足特定条件。
2.如权利要求1所述的半导体存储装置，其特征在于，该控制部在接通该半导体存储装置电源时所执行的电力开启时序中，控制该操作时序。
3.如权利要求1所述的半导体存储装置，其特征在于，该控制部当在该半导体存储装置输入特定指令时，控制该操作时序。
4.如权利要求1所述的半导体存储装置，其特征在于，该控制部在该特定指令执行之前，控制该操作时序。
5.如权利要求1所述的半导体存储装置，其特征在于，当该半导体存储装置具有需要更新操作的存储器时，该控制部在该存储器更新操作执行中，控制该操作时序。
6.如权利要求1所述的半导体存储装置，其特征在于，该控制部利用通过该温度感测器所检测的温度，通过该电压检测部所检测的电源电压，以及与该半导体存储装置内的操作时序的延迟量对应的查询表，控制该操作时序。
7.如权利要求1所述的半导体存储装置，其特征在于，该电压检测部根据通过该电源电压而操作的特定的环形振荡器所输出的信号的切换次数，以检测该电源电压。
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