[实用新型]一种IGBT芯片版图金属层有效

专利信息
申请号: 202021820854.1 申请日: 2020-08-27
公开(公告)号: CN212659541U 公开(公告)日: 2021-03-05
发明(设计)人: 郭乔;林泳浩;李伟聪 申请(专利权)人: 珠海市浩辰半导体有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L29/739
代理公司: 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 代理人: 彭西洋;冯建华
地址: 519031 广东省珠海市横琴新*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 igbt 芯片 版图 金属
【说明书】:

实用新型公开一种IGBT芯片版图金属层,芯片版图包括元胞区、终端区、栅极压焊点、发射极压焊点;所述终端区位于元胞区的外围,栅极压焊点、发射极压焊点位于元胞区内部;其特征在于,版图金属层包括发射极金属及栅极金属;所述发射极金属包括位于元胞区内部的第一发射极金属,以及位于元胞区与终端区连接过渡区的第二发射极金属;所述第二发射极金属在过渡区环绕构成等位环场板,并与第一发射极金属电连接;所述栅极金属环绕在第一发射极金属与第二发射极金属之间,并留有第一发射极金属与第二发射极金属电连接的通道。本实用新型能够满足发射极金属和栅极金属的设计要求,增加电流流通路径,改善电流均匀性,提高关断能力。

技术领域

本实用新型涉及半导体技术领域,尤其涉及一种IGBT芯片版图金属层。

背景技术

IGBT的全称是Insulate Gate Bipolar Transistor,即绝缘栅双极晶体管。作为功率半导体器件的杰出代表,IGBT具有电压控制、电容输入、输入阻抗大、驱动电流小、控制电流简单、热稳定性好等优点,目前被广泛运用到开关电源、整流器、逆变器、UPS等领域。随着半导体工艺能力的不断提升,IGBT芯片尺寸不断缩小,电流密度不断增加,因此对于芯片性能的要求也不断提升。

版图是集成电路设计者将电路转化后的几何图形,包含了集成电路尺寸大小、各层拓扑定义等所有物理信息。掩膜厂根据版图信息制造掩膜,随后流片厂根据掩膜进行工艺生产。因此,版图设计是IGBT设计的重中之重。

IGBT芯片版图包括元胞区和终端区,元胞区由成千上万个单位元胞构成,终端区围绕在元胞区四周,终端区和元胞区连接的区域称为过渡区。IGBT芯片的集电极位于芯片背面,而栅极和发射极均位于芯片正面,所以需要将栅极与发射极进行合理放置并实现电隔离。而栅极金属和发射极金属的设计作为其中关键的一环,现有的版图金属层设计不尽人意,导致芯片存在电流不均匀、关断能力不高等问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种IGBT芯片版图金属层,能够满足发射极金属和栅极金属的设计要求,增加电流流通路径,改善电流均匀性,提高关断能力。

为实现上述目的,采用以下技术方案:

一种IGBT芯片版图金属层,芯片版图包括元胞区、终端区、栅极压焊点、发射极压焊点;所述终端区位于元胞区的外围,栅极压焊点、发射极压焊点位于元胞区内部,版图金属层包括发射极金属及栅极金属;所述发射极金属包括位于元胞区内部的第一发射极金属,以及位于元胞区与终端区连接过渡区的第二发射极金属;所述第二发射极金属在过渡区环绕构成等位环场板,并与第一发射极金属电连接;所述栅极金属环绕在第一发射极金属与第二发射极金属之间,并留有第一发射极金属与第二发射极金属电连接的通道。

较佳地,所述栅极金属包括位于元胞区的栅极压焊点金属,以及电连接栅极压焊点金属的栅走线;所述栅走线位于元胞区的至少三条边的内侧。

较佳地,所述栅极压焊点金属位于元胞区的下方;所述元胞区的至少三条边包括与栅极压焊点金属距离最近的一条边,以及与该边相邻的两条边。

较佳地,发射极压焊点金属位于所述第一发射极金属的任意位置,并与栅极压焊点金属绝缘。

较佳地,所述第一发射极金属与第二发射极金属电连接的通道宽度大于100μm。

采用上述方案,本实用新型的有益效果是:

1)能够满足发射极金属和栅极金属的设计要求,实现电学隔离的同时,将第一发射极金属与第二发射极金属电连接,增加电流流通路径,改善电流均匀性,提高关断能力;

2)位于元胞区的第一发射极金属无断开,保证整体性,有利于后期发射极压焊点焊接;

3)栅走线与栅极压焊点金属连接后,在栅极压焊点金属的两侧形成环绕,由于金属电阻很小,能够保证等电位。

附图说明

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