[实用新型]一种半导体检测用稳定性好的相干探测显微镜有效

专利信息
申请号: 202021646548.0 申请日: 2020-08-10
公开(公告)号: CN213274317U 公开(公告)日: 2021-05-25
发明(设计)人: 张富军 申请(专利权)人: 上海垚智电子科技有限公司
主分类号: G01D11/30 分类号: G01D11/30;G02B21/24
代理公司: 上海骁象知识产权代理有限公司 31315 代理人: 赵俊寅
地址: 201108 上海市闵*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体 检测 稳定性 相干 探测 显微镜
【权利要求书】:

1.一种半导体检测用稳定性好的相干探测显微镜,包括箱体(1),其特征在于:所述箱体(1)右侧的中端固定安装有伺服电机(10),所述伺服电机(10)的输出端贯穿箱体(1)右侧中端的内表面固定连接有螺纹杆(13),且螺纹杆(13)的左侧活动连接于箱体(1)内腔左侧的中端,所述箱体(1)上下两端的内表面均开设有滑槽(12),所述滑槽(12)内腔的右端均滑动连接有滑块(14),所述滑块(14)的内侧固定连接有活动板(16),所述活动板(16)上下两端的内表面均开设有滑孔(17),所述活动板(16)中端的内表面开设有螺纹槽(11),所述螺纹杆(13)右端的外表面螺纹连接于螺纹槽(11)的内腔,所述箱体(1)内腔的上下两端均固定连接有滑杆(15),所述滑杆(15)右端的外表面滑动连接于滑孔(17)的内腔。

2.根据权利要求1所述的一种半导体检测用稳定性好的相干探测显微镜,其特征在于:所述滑块(14)的顶部固定连接有底座(9),所述底座(9)的顶部设置有支架(8)。

3.根据权利要求2所述的一种半导体检测用稳定性好的相干探测显微镜,其特征在于:所述支架(8)左侧的上端设置有镜筒(5),所述镜筒(5)的右下端设置有调节螺丝(7),所述支架(8)左侧的下端固定连接有放置架(3)。

4.根据权利要求3所述的一种半导体检测用稳定性好的相干探测显微镜,其特征在于:所述镜筒(5)的顶部设置有目镜(6),所述镜筒(5)的底部设置有物镜(4)。

5.根据权利要求1所述的一种半导体检测用稳定性好的相干探测显微镜,其特征在于:所述箱体(1)底部的四周均固定连接有支撑腿(2),且支撑腿(2)的底部均设置有防滑垫。

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