[实用新型]一种半导体用机械手测漏治具有效

专利信息
申请号: 202020553230.1 申请日: 2020-04-15
公开(公告)号: CN211991749U 公开(公告)日: 2020-11-24
发明(设计)人: 唐超;林坚 申请(专利权)人: 泓浒(昆山)半导体光电有限公司
主分类号: B23P19/06 分类号: B23P19/06;G01M3/20;B25J15/00
代理公司: 北京远智汇知识产权代理有限公司 11659 代理人: 林波
地址: 215300 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体 机械手 测漏治具
【权利要求书】:

1.一种半导体用机械手测漏治具,包括外壳(1)、防磨板(2)、通气孔(4)、橡胶圈(5)和连接杆(6),其特征在于:所述外壳(1)的顶端固定连接有连接杆(6),且连接杆(6)的顶端固定连接有连接块(7),所述连接杆(6)的底端活动连接有橡胶圈(5),所述连接杆(6)的底端设置有通气孔(4),所述外壳(1)的外侧固定连接有防磨板(2),所述外壳(1)的底端固定连接有连接结构(3),所述外壳(1)的内部固定连接有密封层(9),所述外壳(1)外壁的内部固定连接有加强结构(8)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体用机械手测漏治具,其特征在于:所述连接结构(3)的内部依次设置有法兰片(301)、螺栓(302)和固定螺丝(303),所述法兰片(301)的顶端活动连接有固定螺丝(303),且固定螺丝(303)延伸至法兰片(301)的底端,所述固定螺丝(303)的底端活动连接有螺栓(302)。

3.根据权利要求2所述的一种半导体用机械手测漏治具,其特征在于:所述固定螺丝(303)的外侧壁上均匀设置有外螺纹,所述法兰片(301)的内侧壁上均匀设置有与外螺纹相互配合的内螺纹,所述固定螺丝(303)与法兰片(301)为螺纹连接。

4.根据权利要求1所述的一种半导体用机械手测漏治具,其特征在于:所述橡胶圈(5)的底端固定连接有卡块,所述外壳(1)的顶端设置有和卡块相对应的卡槽,所述橡胶圈(5)和外壳(1)构成卡合结构。

5.根据权利要求1所述的一种半导体用机械手测漏治具,其特征在于:所述加强结构(8)的内部依次设置有加强层(801)、第一加强筋(802)和第二加强筋(803),所述加强层(801)的内部固定连接有第一加强筋(802),且第一加强筋(802)在加强层(801)的内部呈等间距排列。

6.根据权利要求5所述的一种半导体用机械手测漏治具,其特征在于:所述加强层(801)的内部固定连接有第二加强筋(803),且第二加强筋(803)在加强层(801)的内部呈等间距排列。

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