[发明专利]一种用于光刻机的晶圆载台在审
申请号: | 202011388274.4 | 申请日: | 2020-12-02 |
公开(公告)号: | CN112614805A | 公开(公告)日: | 2021-04-06 |
发明(设计)人: | 周杰;张琪;符友银;李俊毅 | 申请(专利权)人: | 北京新毅东科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/687 | 分类号: | H01L21/687;H01L21/67 |
代理公司: | 合肥律众知识产权代理有限公司 34147 | 代理人: | 侯克邦 |
地址: | 100043 北京市石景*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 光刻 晶圆载台 | ||
本发明公开了一种用于光刻机的晶圆载台,包括晶圆载台本体,晶圆载台本体的底部固定连接有承载柱,晶圆载台本体的外侧固定连接有三个支撑板,支撑板的一侧固定连接有限位柱,晶圆载台本体的顶部设置有晶圆,晶圆的正下方设置有光学传感器,光学传感器的设置范围应在晶圆的圆周范围内,三个支撑板沿晶圆载台本体的圆心设置,且每个支撑板之间夹角的度数为120°,支撑板的顶面与晶圆载台本体的顶面平齐,支撑板的厚度为晶圆载台本体的厚度的二分之一。该种用于光刻机的晶圆载台,可有效的使晶圆能够平稳的放置在晶圆载台本体的上表面,使晶圆不会产生倾斜,避免晶圆被损坏,造成损失,使晶圆可轻松的从晶圆载台本体上进行拆卸。
技术领域
本发明涉及晶圆载台技术领域,具体为一种用于光刻机的晶圆载台。
背景技术
电子产品的生产和制造离不开半导体行业,该行业利用各种先进的半导体设备,对晶圆进行多层次的复杂工艺处理,以提供符合电子产品要求的芯片。晶圆在进入半导体设备接受工艺处理时,不能被简单放置,而是需要有专门的装置对其进行定位和固持,以保证工艺效果。这样的装置,在行业中有着多种名称,通常可以被称之为晶圆载台。
光刻是通过一系列生产步骤,将晶圆表面薄膜的特定部分除去的工艺。在此之后,晶圆表面会留下带有微图形结构的薄膜。通过光刻工艺过程,最终在晶圆上保留的是特征图形部分。其基本原理是:利用光致抗蚀剂(或称光刻胶)曝光后因光化学反应而形成耐蚀性的特点,将掩模板上的图形刻制到被加工的晶片表面上。
晶圆是指制作硅半导体电路所用的硅晶片,其原始材料是硅。高纯度的多晶硅溶解后掺入硅晶体晶种,然后慢慢拉出,形成圆柱形的单晶硅。硅晶棒在经过研磨,抛光,切片后,形成硅晶圆片,也就是晶圆。目前国内晶圆生产线以 8英寸和 12 英寸为主。
晶圆的主要加工方式为片加工和批加工,即同时加工一片或多片晶圆。随着半导体特征尺寸越来越小,加工及测量设备越来越先进,使得晶圆加工出现了新的数据特点。同时,特征尺寸的减小,使得晶圆加工时,空气中的颗粒数对晶圆加工后质量及可靠性的影响增大,而随着洁净的提高,颗粒数也出现了新的数据特点。
目前,现有的晶圆在装卸时,需要将晶圆的中心对准晶圆载台的中心,如果晶圆没有平稳的放置在晶圆载台上,晶圆处于倾斜状态,很容易造成晶圆损毁,造成损失,同时晶圆在拆卸时由于有液体存在晶圆表面和载台之间,会存在较大的液体表面张力,使晶圆难以拆卸,因此我们对此做出改进,提出一种用于光刻机的晶圆载台。
发明内容
为了解决上述技术问题,本发明提供了如下的技术方案:
本发明一种用于光刻机的晶圆载台,包括晶圆载台本体,所述晶圆载台本体的底部固定连接有承载柱,所述晶圆载台本体的外侧固定连接有三个支撑板,所述支撑板的一侧固定连接有限位柱,所述晶圆载台本体的顶部设置有晶圆,所述晶圆的正下方设置有光学传感器,所述光学传感器的设置范围应在晶圆的圆周范围内。
作为本发明的一种优选技术方案,三个所述支撑板沿晶圆载台本体的圆心设置,且每个支撑板之间夹角的度数为120°。
作为本发明的一种优选技术方案,所述支撑板的顶面与晶圆载台本体的顶面平齐,所述支撑板的厚度为晶圆载台本体的厚度的二分之一。
作为本发明的一种优选技术方案,所述晶圆载台本体的内部设置有第一通孔,且第一通孔的圆心和晶圆载台本体的圆心为同一点,所述晶圆载台本体内部设置有四个第二通孔,四个所述第二通孔沿晶圆载台本体的圆心为轴在360°范围内均匀设置。
作为本发明的一种优选技术方案,所述晶圆载台本体内部分别设置有第一间隙和第二间隙。
作为本发明的一种优选技术方案,所述第一间隙的圆心和第二间隙的圆心为同一圆心,且均以晶圆载台本体的圆心设置。
作为本发明的一种优选技术方案,所述第一间隙和第二间隙均为环形,所述第一间隙的半径大于第二间隙的半径。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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