[发明专利]热电子发射阴极及其组成的热电子和离子发射装置在审
| 申请号: | 202011182424.6 | 申请日: | 2020-10-29 |
| 公开(公告)号: | CN114429892A | 公开(公告)日: | 2022-05-03 |
| 发明(设计)人: | 李河圣;朴兴雨;朱宁炳;刘金彪;刘青;王垚;张琦辉;李琳 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所;真芯(北京)半导体有限责任公司 |
| 主分类号: | H01J37/075 | 分类号: | H01J37/075;H01J37/08;H01J37/317;H01J9/04;H01L21/67 |
| 代理公司: | 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 | 代理人: | 金铭 |
| 地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电子 发射 阴极 及其 组成 离子 装置 | ||
本发明涉及一种热电子发射阴极及其组成的热电子和离子发射装置。一种热电子发射阴极,包括:热电子发射基底面;所述热电子发射基底面上分布有多个突起部。本发明提供的阴极具有更大的比表面积,释放热电子的面积更大,可以提高热电子的利用率,延长设备使用寿命。
技术领域
本发明涉及半导体生产设备领域,特别涉及一种热电子发射阴极及其组成的热电子和离子发射装置。
背景技术
在半导体的制作工艺中,通常需要向半导体晶圆或者其他元件中注入离子,以改变导电性或改变晶体结构。注入离子所用的装置称为离子注入装置。
离子注入装置中等离子的产生过程是:通入电流加热灯丝,从而产生热电子,再通过该热电子加热阴极,从被加热的阴极产生的热电子在电弧室内加速,与电弧室内的源气体分子碰撞,使源气体分子中所含的原子电离,从而产生等离子。如上文所述,等离子是在电弧室中产生,热电子是在电弧室中的热电子放出部产生。热电子放出部结构如图1所示,其主要由灯丝11和阴极组成。其中,阴极包括阴极罩12以及可选择性设置的隔热条及用于固定阴极的固定元件13等,阴极罩12朝向电弧室内部用于放出热电子,现有的阴极罩的热电子发射面通常为平面状,如图2所示,这种形状的发射面导致其在固定空间内的表面积有限,从而放出的热电子量有限,这样既降低了热电子的利用率,又容易造成电弧室内的污染,缩短离子源使用寿命。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种热电子发射阴极,该阴极具有更大的比表面积,释放热电子的面积更大,可以提高热电子的利用率,延长设备使用寿命。
为了实现以上目的,本发明提供了以下技术方案:
一种热电子发射阴极,包括:
热电子发射基底面;
所述热电子发射基底面上分布有多个突起部。
该阴极在基底面上设置了多个突起部,由于突起部的发射面更多,因此增加了阴极的热电子发射量,从而提高热电子的利用率,延长设备使用寿命,同时降低了维修成本。其中,突起部的形状是任意的,包括但不限于球形、半球形、椭圆体、规则或不规则的多面体等。
上述热电子发射阴极可用于任意需要发射热电子的装置中,包括但不限于X射线源、离子发射源等,可用于制作存储半导体(DRAM、SRAM)、LSI半导体、,逻辑器件等。
与现有技术相比,本发明达到了以下技术效果:
(1)在同样空间内,提高了阴极的热电子发射面积。
附图说明
通过阅读下文优选实施方式的详细描述,各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的,而并不认为是对本发明的限制。
图1为现有技术热电子发射阴极的结构示意图;
图2为图1中热电子发射面的投影图;
图3为本发明提供的热电子发射装置的结构示意图;
图4为图3热电子发射阴极的投影图;
图5为本发明提供的另一种热电子发射装置的结构示意图;
附图标记:
11-灯丝,12-阴极罩,13-固定元件,
21-灯丝,22-阴极,23-基底面,24-突起部,25-夹片。
具体实施方式
以下,将参照附图来描述本公开的实施例。但是应该理解,这些描述只是示例性的,而并非要限制本公开的范围。此外,在以下说明中,省略了对公知结构和技术的描述,以避免不必要地混淆本公开的概念。
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