[发明专利]显示面板及显示装置在审
| 申请号: | 202011161245.4 | 申请日: | 2020-10-27 |
| 公开(公告)号: | CN112289776A | 公开(公告)日: | 2021-01-29 |
| 发明(设计)人: | 彭文龙 | 申请(专利权)人: | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号: | H01L23/544 | 分类号: | H01L23/544;G09F9/30 |
| 代理公司: | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人: | 何辉 |
| 地址: | 430079 湖北省武汉市东湖新技术*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 显示 面板 显示装置 | ||
本发明实施例公开了一种显示面板及显示装置,其中,该显示面板包括:检测区域和显示区域,所述显示区域包括多个子像素,所述显示面板还包括:衬底基板,包括第一子部和第二子部,所述第一子部的位置与所述检测区域的位置对应;所述第二子部与所述显示区域的位置对应;检测端子,设于所述第一子部上;限定层,包括第一限定部,所述第一限定部设于所述第二子部上;所述第一限定部上设置有第一开口区域,所述第一开口区域的位置与所述子像素的位置对应;间隙子,设于所述第一限定部上。本发明实施例的显示面板及显示装置,可以提高产品良率。
技术领域
本发明涉及显示技术领域,具体涉及一种显示面板及显示装置。
背景技术
柔性显示面板由于其轻薄、可弯曲折叠等优势,近年来在电子设备中的占比越来越高,目前显示面板的阵列区域基本上都是采用的7T1C设计,由于涉及到补偿电路,所以对产品电性的要求较高;而产线上监控电性的设备基本上采用测试元件组(Test ElementGroup,TEG)。
TEG设备在测量产品电性时,需要进行两道识别工序,识别工序是通过图像识别设备抓取检测端子的图像以确定检测端子的位置,然后再将TEG的探针接在检测端子上。然而在最后一道识别工序时,容易受到其他膜层的干扰,导致无法准确地获取待检测端子的图像,从而无法接入探针,进而无法进行测量,降低了显示面板的产品良率。
发明内容
本发明实施例提供一种显示面板及显示装置,可以提高显示面板的产品良率。
本发明实施例提供一种显示面板,其包括:检测区域和显示区域,所述显示区域包括多个子像素,所述显示面板还包括:
衬底基板,包括第一子部和第二子部,所述第一子部的位置与所述检测区域的位置对应;所述第二子部与所述显示区域的位置对应;
检测端子,设于所述第一子部上;
限定层,包括第一限定部,所述第一限定部设于所述第二子部上;所述第一限定部上设置有第一开口区域,所述第一开口区域的位置与所述子像素的位置对应;
间隙子,设于所述第一限定部上。
本发明还提供一种显示装置,其包括上述显示面板。
本发明实施例的显示面板及显示装置,包括检测区域和显示区域,所述显示区域包括多个子像素,所述显示面板还包括:衬底基板,包括第一子部和第二子部,所述第一子部的位置与所述检测区域的位置对应;所述第二子部与所述显示区域的位置对应;检测端子,设于所述第一子部上;限定层,包括第一限定部,所述第一限定部设于所述第二子部上;所述第一限定部上设置有第一开口区域,所述第一开口区域的位置与所述子像素的位置对应;间隙子,设于所述第一限定部上;由于在检测端子的两侧未设置像素定义层和间隙子,因此可以避免受到间隙子和限定层的干扰,进而可以准确地获取待检测端子的图像,便于接入探针和测量,提高了显示面板的产品良率。
附图说明
图1为现有显示面板中第一检测区域的剖面示意图。
图2为现有显示面板中第二检测区域的剖面示意图。
图3为本发明一实施例提供的显示面板的局部剖面示意图。
图4为本发明一实施例提供的显示面板的剖面示意图。
图5为本发明另一实施例提供的显示面板的剖面示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
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