[发明专利]太阳能电池片的电极缺陷检测方法、设备及存储介质

权利要求书

1.一种太阳能电池片的电极缺陷检测方法，其特征在于，包括：

获取被检测的太阳能电池片的原始图像，并对所述原始图像进行阈值分割，以获得第一目标电极区域图像；

对所述第一目标电极区域图像进行面积阈值检测分割，以获得第二目标电极区域图像；

对所述第二目标电极区域图像进行形态学操作，以获得第三目标电极区域图像；

对所述第三目标电极区域图像进行区域形状变换，以获得其最小的外包矩形；

对所述外包矩形进行参数输出，获得所述外包矩形的中心坐标和右下角坐标；

对所述第三目标电极区域图像依次进行投影操作，以获得列像素坐标灰度平均值，取部分区间的列像素坐标灰度平均值作为整体平均值，若列灰度平均值大于整体平均值，则视为电极溢出的像素点。

2.根据权利要求1所述的电极缺陷检测方法，其特征在于，对所述图像进行阈值分割，以获得第一目标电极区域图像，包括：

采用预设阈值分割所述原始图像，以获得第一目标电极区域图像；所述预设阈值为220至255。

3.根据权利要求1所述的电极缺陷检测方法，其特征在于，对所述第一目标电极区域图像进行面积阈值检测分割，以获得第二目标电极区域图像，包括：

对所述第一目标电极区域图像进行面积特征阈值检测分割，筛除所述第一目标电极区域图像中不在面积区间内的区域，以获得第二目标电极区域图像；

所选面积区间为41000至700000。

4.根据权利要求1所述的电极缺陷检测方法，其特征在于，对所述第二目标电极区域图像进行形态学操作，以获得第三目标电极区域图像，包括：

采用结构元素对所述第二目标电极区域图像进行形态变换运算，所述形态变换运算采用先膨胀后腐蚀的闭运算，去除所述第二目标电极区域图像中的干扰点；

所述结构元素选取为50×50的矩形。

5.根据权利要求1所述的电极缺陷检测方法，其特征在于，取部分区间的列像素坐标灰度平均值作为整体平均值为：

取1/3至2/3的列像素坐标灰度平均值作为整体平均值。

6.根据权利要求1所述的电极缺陷检测方法，其特征在于，若列灰度平均值大于整体平均值，则视为电极溢出的像素点，包括：

设定一阈值tolerance，取tolerance＝10，若列灰度平均值大于所述整体平均值与tolerance的和，则视为电极溢出的像素点坐标。

7.一种太阳能电池片的电极缺陷检测设备，其特征在于，所述电极缺陷检测设备包括：

一个或多个处理器；

存储装置，用于存储一个或多个程序；

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-6中任一所述的电极缺陷检测方法。

8.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-6中任一所述的电极缺陷检测方法。