[发明专利]一种氮化铝-氧化铝薄膜及其制备方法和应用在审

专利信息
申请号: 202010277909.7 申请日: 2020-04-10
公开(公告)号: CN111455351A 公开(公告)日: 2020-07-28
发明(设计)人: 蒋书森;吕文龙 申请(专利权)人: 厦门大学
主分类号: C23C16/455 分类号: C23C16/455;C23C16/40;C23C16/34;C23C16/46;H01L21/02;H01L29/51
代理公司: 北京高沃律师事务所 11569 代理人: 马小星
地址: 361005 福建*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 氮化 氧化铝 薄膜 及其 制备 方法 应用
【权利要求书】:

1.一种氮化铝-氧化铝薄膜的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:

(1)在原子层沉积室内放置硅衬底,将所述硅衬底升温至150~350℃,得到待沉积硅衬底;

(2)在真空条件下,向原子层沉积室通入三甲基铝气流,在待沉积硅衬底上得到第一原子沉积层;

(3)通过氮气流吹扫对原子层沉积室进行净化,然后向原子层沉积室通入氨水气流,在待沉积硅衬底上得到第一氮化铝-氧化铝沉积层;所述氨水气流为氨和水蒸气的混合气流;

(4)通过氮气流吹扫对原子层沉积室进行净化;

(5)重复通入三甲基铝气流-净化-通入氨水气流-净化的步骤,在待沉积硅衬底上得到氮化铝-氧化铝薄膜,所述重复的次数为0次以上。

2.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述三甲基铝气流由三甲基铝在环境温度下自然挥发得到。

3.根据权利要求2所述的制备方法,其特征在于,所述三甲基铝气流的通入时间为50~300ms。

4.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述氨水气流由氨水在环境温度下自然挥发得到,所述氨水的质量浓度为23~27%。

5.根据权利要求4所述的制备方法,其特征在于,所述氨水气流的通入时间为50~300ms。

6.根据权利要求1~5任一项所述的制备方法,其特征在于,所述真空条件为绝对压力≤10mbar的条件。

7.根据权利要求1~5任一项所述的制备方法,其特征在于,所述氮气流的流量为900~1100sccm;所述净化的时间为3~10s。

8.根据权利要求7所述的制备方法,其特征在于,通入三甲基铝气流、氨水气流和氮气流的管路均与混合装置连通,所述混合装置的气体排出口与原子层沉积室连通,且通入三甲基铝气流和氨水气流时,均维持所述氮气流为通入状态。

9.权利要求1~8任一项所述的制备方法得到的氮化铝-氧化铝薄膜。

10.权利要求9所述的氮化铝-氧化铝薄膜在电子器件中的应用。

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