[发明专利]射频引入装置及半导体加工设备在审
申请号: | 201911376061.7 | 申请日: | 2019-12-27 |
公开(公告)号: | CN111139460A | 公开(公告)日: | 2020-05-12 |
发明(设计)人: | 姜艳杰;王晓飞 | 申请(专利权)人: | 北京北方华创微电子装备有限公司 |
主分类号: | C23C16/509 | 分类号: | C23C16/509;C23C16/458;H01L31/18 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 彭瑞欣;王婷 |
地址: | 100176 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射频 引入 装置 半导体 加工 设备 | ||
本申请实施例提供了一种射频引入装置及半导体加工设备。该射频引入装置用于向位于半导体工艺炉内部的晶舟引入射频,包括:支撑机构、前射频机构及后射频机构;支撑机构包括支撑杆,且支撑杆的第一端与半导体工艺炉的炉口连接,支撑杆的第二端与半导体工艺炉的炉尾连接;前射频机构及后射频机构并列设置于支撑杆上,用于承载晶舟;前射频机构靠近支撑杆的第一端设置,后射频机构靠近支撑杆的第二端设置;前射频机构与晶舟的一端电连接,后射频机构与晶舟的另一端电连接。本申请实施例实现了对晶舟的射频进行双向引入,从而改变半导体工艺炉内晶舟正负极间的电流方向,进而改善了工艺的均匀性和钝化效果。
技术领域
本申请涉及半导体加工技术领域,具体而言,本申请涉及一种射频引入装置及半导体加工设备。
背景技术
目前,太阳能电池是解决日益严峻的能源及环境问题的重要选项,而晶硅电池由于其在成本及效率等多方面的优势,在整个光伏产业中始终占据举足轻重的市场份额。经过多年的研究和发展,人们已经认识到光管理(Light Management)和钝化(Passivating)是提高晶硅电池效率的有效途径。一般而言,光管理主要是对电池受光面的处理,包括表面织构化及增加减反射膜,从而极大地提高对入射太阳光的吸收;钝化则是在电池前后表面淀积某些介电材料,以减少表面缺陷所导致的分子复合。
在晶硅电池的实际生产过程中,减反射膜和/或钝化膜的制备普遍采用等离子体增强化学的气相沉积(Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition,PECVD)设备来实现。例如,对于在晶硅电池产业中占主导地位的铝背场P型电池,N型发射极表面(即受光面)均利用PECVD设备淀积SiNx:H,可同时起减反射和钝化作用;对于目前正在崛起的钝化发射极和背面电池(Passivated Emitterand Rear Cell,PERC),AlOx/SiNx叠层被认为具有更佳的背钝化效果,而这两层薄膜均可用PECVD设备进行制备。现有技术中的一般采用晶舟承载晶硅电池的基片,然后将晶舟置入PECVD设备中进行工艺。但是由于现有电极与晶舟的连接方式,导致工艺性能不佳;另外每次工艺时均需将晶舟与设备的电极进行连接,操作较为不便影响了工艺效率,并且影响了安全性及稳定性。
发明内容
本申请针对现有方式的缺点,提出一种射频引入装置及半导体加工设备,用以解决现有技术存在工艺性能不佳、工艺效率较低以及安全稳定性不佳的技术问题。
第一个方面,本申请实施例提供了一种射频引入装置,用于向位于半导体工艺炉内部的晶舟引入射频,包括:支撑机构、前射频机构及后射频机构;所述支撑机构包括支撑杆,且所述支撑杆的第一端与所述半导体工艺炉的炉口连接,所述支撑杆的第二端与半导体工艺炉的炉尾连接;所述前射频机构及所述后射频机构并列设置于所述支撑杆上,用于承载所述晶舟;所述前射频机构靠近所述支撑杆的第一端设置,所述后射频机构靠近所述支撑杆的第二端设置;所述前射频机构与所述晶舟的一端电连接,所述后射频机构与所述晶舟的另一端电连接。
于本申请的一实施例中,所述支撑机构包括并列设置的两个所述支撑杆,并且所述支撑杆的第一端、第二端均与所述半导体工艺炉的法兰连接。
于本申请的一实施例中,所述前射频机构包括两个前承载块,两个所述前承载块分别套设于两个所述支撑杆上,用于承载所述晶舟的前端;所述后射频机构包括两个后承载块,两个所述后承载块分别套设于两个所述支撑杆上,用于承载所述晶舟的后端;所述前射频机构还包括前引入件及前引入部,所述前引入件设置于所述支撑杆上,并且位于所述后射频机构与所述支撑杆的第二端之间,所述前引入件与所述前引入部电连接;所述前射频机构还包括有连接杆,所述连接杆的两端分别与所述前承载块及所述前引入件电连接。
于本申请的一实施例中,所述连接杆包覆有绝缘套。
于本申请的一实施例中,所述前射频机构还包括有定位件,所述定位件固定设置于所述支撑杆上,用于定位所述前承载块。
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C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的