[发明专利]基板处理方法以及基板处理装置在审
申请号: | 201911292029.0 | 申请日: | 2019-12-16 |
公开(公告)号: | CN111326456A | 公开(公告)日: | 2020-06-23 |
发明(设计)人: | 吉田幸史;上田大 | 申请(专利权)人: | 株式会社斯库林集团 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/02 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 宋晓宝;向勇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 处理 方法 以及 装置 | ||
1.一种基板处理方法,
包括:
处理液供给工序,将具有溶质以及溶剂的处理液朝向基板的表面供给,
处理膜形成工序,使供给至所述基板的表面的所述处理液固化或硬化,在所述基板的表面形成保持存在于所述基板的表面的去除对象物的处理膜,
剥离工序,通过向所述基板的表面供给剥离液形成液,使所述剥离液形成液与所述处理膜接触而形成剥离液,通过所述剥离液将保持所述去除对象物的状态的所述处理膜从所述基板的表面剥离,
去除工序,通过在剥离所述处理膜后继续供给所述剥离液形成液,在使所述处理膜保持所述去除对象物的状态下,冲走所述处理膜而将所述处理膜从所述基板的表面去除。
2.如权利要求1所述的基板处理方法,其中,
所述溶质具有剥离液形成物质,
所述处理膜形成工序包括形成具有固体状态的所述剥离液形成物质的所述处理膜的工序,
所述剥离工序包括通过使所述处理膜中的固体状态的所述剥离液形成物质溶解于供给至所述基板的表面的所述剥离液形成液而形成所述剥离液的工序。
3.如权利要求1或2所述的基板处理方法,其中,
所述剥离液为碱性液体。
4.如权利要求1或2所述的基板处理方法,其中,
所述剥离液形成液为纯水。
5.如权利要求1或2所述的基板处理方法,其中,
所述剥离工序包括:
通孔形成工序,通过向所述基板的表面供给所述剥离液形成液,所述处理膜被部分地溶解而在所述处理膜上形成通孔。
6.如权利要求5所述的基板处理方法,其中,
所述溶质具有高溶解性物质和相对于所述剥离液的溶解性比所述高溶解性物质低的低溶解性物质,
所述处理膜形成工序包括形成具有固体状态的所述高溶解性物质以及所述低溶解性物质的所述处理膜的工序,
所述通孔形成工序包括:通过使所述处理膜中的固体状态的所述高溶解性物质溶解于在所述基板上形成的所述剥离液而在所述处理膜上形成所述通孔的工序。
7.如权利要求6所述的基板处理方法,其中,
所述低溶解性物质相对于所述剥离液形成液的溶解性比所述高溶解性物质相对于所述剥离液形成液的溶解性低,
所述通孔形成工序包括:通过使所述处理膜中的固体状态的所述高溶解性物质溶解于供给至所述基板的表面的所述剥离液形成液而在所述处理膜上形成所述通孔的工序。
8.如权利要求5所述的基板处理方法,其中,
所述溶质具有高溶解性物质和相对于所述剥离液形成液的溶解性比所述高溶解性物质低的低溶解性物质,
所述处理膜形成工序包括形成具有固体状态的所述高溶解性物质以及所述低溶解性物质的所述处理膜的工序,
所述通孔形成工序包括:通过使所述处理膜中的固体状态的所述高溶解性物质溶解于供给至所述基板的表面的所述剥离液形成液而在所述处理膜上形成所述通孔的工序。
9.一种基板处理方法,
包括:
处理液供给工序,朝向基板的表面供给具有包含碱性成分的溶质以及溶剂的处理液,
处理膜形成工序,通过使供给至所述基板的表面的所述处理液固化或硬化,在所述基板的表面形成保持存在于所述基板的表面的去除对象物且含有所述碱性成分的处理膜,
剥离工序,通过向所述基板的表面供给纯水而使所述纯水与所述处理膜接触,使所述处理膜中的所述碱性成分溶出到所述纯水而形成碱性水溶液,通过所述碱性水溶液使保持所述去除对象物的状态的所述处理膜从所述基板的表面剥离,
去除工序,通过在剥离所述处理膜后继续供给所述纯水,在使所述处理膜保持所述去除对象物的状态下,冲走所述处理膜而将所述处理膜从所述基板的表面去除。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社斯库林集团,未经株式会社斯库林集团许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911292029.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造