[发明专利]基于低功函数阳极金属的低开启电压GaN微波二极管及制备方法有效
| 申请号: | 201910976638.1 | 申请日: | 2019-10-15 |
| 公开(公告)号: | CN110729362B | 公开(公告)日: | 2020-11-10 |
| 发明(设计)人: | 张进成;党魁;周弘;张涛;张苇杭;宁静;郝跃 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
| 主分类号: | H01L29/88 | 分类号: | H01L29/88;H01L29/417;H01L21/329 |
| 代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 王品华 |
| 地址: | 710071 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 函数 阳极 金属 开启 电压 gan 微波 二极管 制备 方法 | ||
本发明公开了一种基于低功函数阳极金属的低开启电压GaN微波二极管及制备方法,主要解决GaN微波二极管开启电压较大的问题。本发明的器件是在AlGaN/GaN外延片上进行,该外延片自下而上为衬底(1)、外延缓冲层(2)、GaN沟道层(3)和AlGaN势垒层(4),在沟道层及势垒层上设有圆形凹槽(5),凹槽的外围势垒层上设有环形阴极(6),AlGaN势垒层上凹槽及阴极以外区域设有介质(7),凹槽的底部、侧壁以及凹槽边缘介质上设有阳极(8),阳极采用低功函数金属Mo或W与金属Au叠层。本发明可以显著降低GaN微波二极管开启电压,提高器件性能,可广泛应用于微波整流和微波限幅。
技术领域
本发明属于微电子技术领域,特别涉及一种低开启电压GaN微波二极管,可用于微波整流或微波限幅。
技术背景
作为一种宽禁带半导体材料,GaN材料具有极大的电学性能优势,AlGaN/GaN异质结结构因为其强大的自发极化和压电极化效应,会在靠近界面处GaN一侧感生出高浓度的二维电子气,由于电子被限制的势阱中,且该区域杂质掺杂极少,因此电离杂质散射和合金无序散射较小,二维电子气具有极高的迁移率和电子饱和速率,且GaN由于材料固有的宽禁带属性,其临界击穿场强极大,适合制作大功率高频微波器件。但也同样由于其材料属性,GaN材料用于微波二极管器件时,由于金属功函数差较大,器件的肖特基势垒较高,微波二极管开启电压相比于传统Si基及GaAs基二极管大,极大影响其效率。
传统的基于AlGaN/GaN结构的微波二极管多采用Ni、Pt等金属与AlGaN层实现肖特基接触,由于较高的势垒高度,器件开启电压多在1V以上,使得在小功率整流,检波等领域使用受限,因此,制作低开启电压的GaN微波二极管可以极大的提高器件性能,扩展其应用领域,具有很大的实用意义。
发明内容
本发明的目的在于克服GaN微波二极管开启电压高的不足,提供一种基于低功函数金属的低开启电压GaN微波二极管及制备方法,以结合凹槽阳极刻蚀工艺,提升器件性能,尤其降低器件的开启电压,提高器件工作效率。
为实现上述目的,本发明基于低功函数金属的低开启电压GaN微波二极管,自下而上包括衬底、GaN缓冲层、GaN沟道层和AlGaN势垒层,其特征在于,在沟道层及势垒层上设有圆形凹槽,凹槽的外围势垒层上设有环形阴极,AlGaN势垒层上凹槽及阴极以外区域设有介质,凹槽的底部、侧壁以及凹槽边缘介质上设有阳极。
作为优选,其特征在于,凹槽的深度为AlGaN势垒与GaN表面以下5-25nm。
作为优选,其特征在于,衬底采用厚度为400μm-600μm的SiC衬底或厚度为400μm-600μm蓝宝石衬底或厚度为400μm-1000μm的Si衬底。
作为优选,其特征在于,外延缓冲层采用厚度为1μm-6μm的GaN缓冲层或厚度为1μm-6μm的AlGaN渐变缓冲层。
作为优选,其特征在于,GaN沟道层采用厚度为100nm-400nm的非故意掺杂GaN。
作为优选,其特征在于,阳极采用厚度为30-200nm的Mo或W金属和0-200nm的Au金属叠层。
为实现上述目的,本发明制备基于低功函数金属的低开启电压GaN微波二极管的方法,其技术关键是:采用ICP干法刻蚀工艺,精确控制刻蚀速率,在二极管阳极处向下刻蚀至AlGaN/GaN异质结界面下5-25nm,采用磁控溅射设备,溅射低功函数阳极金属,比如Mo或W,形成与二维电子气区域的侧面直接接触,减小器件开启电压。具体步骤包括如下:
1)清洗外延片:
将AlGaN/GaN结构的外延片先放入HF酸溶液或HCl酸溶液中浸泡30s,再依次放入丙酮溶液、无水乙醇溶液和去离子水中各超声清洗各5min,然后用氮气吹干;
2)制作GaN微波二极管阴极:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子科技大学,未经西安电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910976638.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类





