[发明专利]物体检测传感器对准在审

专利信息
申请号: 201910850843.3 申请日: 2019-09-10
公开(公告)号: CN110954889A 公开(公告)日: 2020-04-03
发明(设计)人: 郝承晖;R·M·泰勒;R·J·迪茨 申请(专利权)人: 德尔福技术有限责任公司
主分类号: G01S7/497 分类号: G01S7/497;G01S7/481;G01S17/931
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 舒雄文
地址: 美国密*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 物体 检测 传感器 对准
【权利要求书】:

1.一种物体检测系统(20),包括:

传感器(24),具有视场(26),所述传感器(24)被配置为发射辐射(34)并检测由所述视场(26)内的物体反射的所述辐射(34))中的至少一些辐射;

面板(28),在所述视场(26)中,所述面板(28)允许所述辐射(34)穿过所述面板(28),所述面板(28)被配置成相对于车辆坐标系(30)设定在固定位置;

多个反射对准标记(32),设置在所述视场(26)中的所述面板(28)上,所述反射对准标记(32)将由所述传感器(24)发射的辐射(36)朝向所述传感器(24)反射回;以及

处理器(38),其被配置为基于来自所述传感器(24)的关于由所述反射对准标记(32)反射并由所述传感器(24)检测到的辐射(36)的指示来确定所述传感器(24)与所述车辆坐标系(30)的对准。

2.如权利要求1所述的物体检测系统(20),其中,

所述面板(28)包括第一材料;并且

所述反射对准标记(32)包括施加到所述面板(28)的第二不同材料。

3.如权利要求1所述的物体检测系统(20),其中,所述反射对准标记(32)包括聚焦形状,所述聚焦形状将由所述反射对准标记(32)反射的辐射(36)朝向所述传感器(24)聚焦。

4.如权利要求3所述的物体检测系统(20),其中,所述反射对准标记(32)具有至少部分凹陷的聚焦表面。

5.如权利要求1所述的物体检测系统(20),其中,所述反射对准标记(32)包括对所述面板(28)的对应部分的表面处理。

6.如权利要求1所述的物体检测系统(20),其中,

所述多个反射对准标记(32)包括至少三个反射对准标记(32);并且

所述至少三个反射对准标记(32)相对于彼此设置为提供至少两个维度上的对准信息。

7.如权利要求1所述的物体检测系统(20),其中,

所述视场(26)大致是具有四个角的矩形;并且

所述反射对准标记(32)中的至少一个反射对准标记在所述四个角中的每一个附近。

8.如权利要求1所述的物体检测系统(20),其中,

所述反射对准标记(32)沿所述视场(26)的周边建立框架;

所述框架是矩形的;

所述反射对准标记(32)中的第一个反射对准标记限定所述框架的第一边;

所述反射对准标记(32)中的第二个反射对准标记限定所述框架的第二边;

所述反射对准标记(32)中的第三个反射对准标记限定所述框架的第三边;并且

所述反射对准标记(32)中的第四个反射对准标记限定所述框架的第四边。

9.如权利要求1所述的物体检测系统(20),其中,所述处理器(38)被配置为重复地确定所述传感器(24)与所述车辆坐标系(30)的所述对准,并在来自所述传感器(24)的所述指示对应于所述传感器(24)和所述车辆参照系之间的未对准时,提供输出。

10.如权利要求1所述的物体检测系统(20),其中,

所述传感器(24)基于检测到当所述传感器(24)与所述车辆坐标系(30)正确对准时由所述反射对准标记(32)反射的辐射(34)而提供预定的第一指示;

所述传感器(24)基于检测到当所述传感器(24)与所述车辆坐标系(30)未对准时由所述反射对准标记(32)反射的辐射(34)而提供不同的第二指示;并且

所述处理器(38)确定来自所述传感器(24)的所述指示是对应于所述第一指示还是所述第二指示。

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