[发明专利]基于闪存技术的非易失性光波导干涉单元有效

专利信息
申请号: 201910712089.7 申请日: 2019-08-02
公开(公告)号: CN110534521B 公开(公告)日: 2022-06-28
发明(设计)人: 李燕;陈伟伟;汪鹏君 申请(专利权)人: 宁波大学
主分类号: H01L27/11521 分类号: H01L27/11521;H01L27/11526
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人: 林超
地址: 315211 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 基于 闪存 技术 非易失性光 波导 干涉 单元
【权利要求书】:

1.一种基于闪存技术的非易失性光波导干涉单元,其特征在于:包括从下到上依次布置的衬底(8)、缓冲层(7)、背栅阻挡层(6)和隧穿层(5),源极(1)和漏极(2)分别布置在隧穿层(5)上表面的两侧,源极(1)和漏极(2)连接到外部电源;光波导(9)置于缓冲层(7)中间,且位于衬底(8)和背栅阻挡层(6)之间;在隧穿层(5)和背栅阻挡层(6)之间设置有浮栅层(3),浮栅层(3)一侧向源极(1)延伸且延伸到源极(1)下方但不延伸到缓冲层(7)和背栅阻挡层(6)的外边沿,浮栅层(3)另一侧向漏极(2)延伸且延伸到漏极(2)下方;在隧穿层(5)和漏极(2)之间设置有电荷控制层(4),电荷控制层(4)一侧延伸到漏极(2)外边沿,电荷控制层(4)另一侧向源极(1)延伸但不接触源极(1);

所述的浮栅层(3)的材料为易于调控且介电常数随电荷浓度变化而改变的材料构成;所述的电荷控制层(4)的材料为导电材料,具体为透明导电材料ITO;

浮栅层(3)及电荷控制层(4)的介电常数与其内部的电荷浓度有关,而电荷浓度随隧穿电流的变化而改变,在不同的外加电压下介电常数不同。

2.根据权利要求1所述的一种基于闪存技术的非易失性光波导干涉单元,其特征在于:所述电荷控制层(4)和源极(1)之间存在间隙。

3.根据权利要求1所述的一种基于闪存技术的非易失性光波导干涉单元,其特征在于:所述浮栅层(3)和电荷控制层(4)在上下竖直方向存在重叠。

4.根据权利要求1所述的一种基于闪存技术的非易失性光波导干涉单元,其特征在于:所述浮栅层(3)、隧穿层(5)和电荷控制层(4)形成极板电容结构,且极板电容结构与光波导(9)的距离小于10nm,构成极板电容结构的任一层的材料介电常数变化均会影响光波导(9)内的传输模式,对光波导(9)内传输的光信号产生调控效果;且各层作用效果可叠加,能进一步增加存储级数。

5.根据权利要求1所述的一种基于闪存技术的非易失性光波导干涉单元,其特征在于:所述衬底(8)、缓冲层(7)分别采用SOI、氧化硅材料。

6.根据权利要求1所述的一种基于闪存技术的非易失性光波导干涉单元,其特征在于:所述源极(1)和漏极(2)采用金属材料。

7.根据权利要求1所述的一种基于闪存技术的非易失性光波导干涉单元,其特征在于:所述的光波导干涉单元应用于光网络、光互连以及光子神经形态计算芯片。

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