[发明专利]电子元器件封装件在审

专利信息
申请号: 201910427721.3 申请日: 2019-05-22
公开(公告)号: CN110767644A 公开(公告)日: 2020-02-07
发明(设计)人: 蔡永福;宫崎州平;山胁和真 申请(专利权)人: TDK株式会社
主分类号: H01L25/16 分类号: H01L25/16;H01L23/495
代理公司: 11322 北京尚诚知识产权代理有限公司 代理人: 杨琦;黄浩
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 镀层 电子元器件 绝缘层 金属材料 第二面 电子元器件封装 芯片 离子迁移 覆盖
【权利要求书】:

1.一种电子元器件封装件,具备:

基底部,包括第一面和第二面;

第一镀层,覆盖所述第一面;

第一电子元器件芯片,夹着第一绝缘层设在所述第一镀层上;

第二镀层,覆盖所述第二面;以及

第二电子元器件芯片,夹着第二绝缘层设在所述第二镀层上,

所述第一镀层和所述第二镀层含有第一金属材料,所述第一金属材料比银难以发生离子迁移现象。

2.根据权利要求1所述的电子元器件封装件,其中,

所述第一金属材料包括金、钯和镍中的至少一种。

3.根据权利要求1或权利要求2所述的电子元器件封装件,其中,

所述第一镀层与所述第二镀层形成为一体。

4.一种电子元器件封装件,具备:

基底部,包括第一面和第二面;

第一电子元器件芯片,夹着第一绝缘层设在所述第一面上;以及

第二电子元器件芯片,夹着第二绝缘层设在所述第二面上。

5.根据权利要求1至权利要求4中的任一项所述的电子元器件封装件,其中,

所述第一电子元器件芯片包括第一特定用途集成电路和第一传感器。

6.根据权利要求1至权利要求5中的任一项所述的电子元器件封装件,其中,

所述第二电子元器件芯片包括第二特定用途集成电路和第二传感器。

7.根据权利要求1至权利要求6中的任一项所述的电子元器件封装件,其中,

所述第一绝缘层和所述第二绝缘层均为绝缘性粘合膜。

8.根据权利要求1至权利要求7中的任一项所述的电子元器件封装件,其中,

所述第一面和所述第二面位于所述基底部上的相反侧。

9.根据权利要求1至权利要求8中的任一项所述的电子元器件封装件,其中,

进一步具备:

第一引线,设在与所述基底部分开的位置;

第三镀层,覆盖所述第一引线的表面;以及

第一导线,连接所述第三镀层与所述第一电子元器件芯片的第一端子。

10.根据权利要求9所述的电子元器件封装件,其中,

进一步具备:

第二引线,设在与所述基底部和所述第一引线分开的位置;

第四镀层,覆盖所述第二引线的表面;以及

第二导线,连接所述第四镀层与所述第二电子元器件芯片的第二端子。

11.根据权利要求10所述的电子元器件封装件,其中,

进一步具备保护膜,

所述保护膜覆盖所述第一电子元器件芯片、所述第二电子元器件芯片、所述第一引线的一部分、所述第三镀层的一部分、所述第一导线、所述第二引线的一部分、所述第四镀层的一部分和所述第二导线。

12.根据权利要求11所述的电子元器件封装件,其中,

所述保护膜的内部具有空隙,

所述第一电子元器件芯片包括第一特定用途集成电路和第一传感器,

所述第二电子元器件芯片包括第二特定用途集成电路和第二传感器,

至少所述第一传感器和所述第二传感器设在所述空隙中。

13.根据权利要求10至权利要求12中的任一项所述的电子元器件封装件,其中,

所述第三镀层和所述第四镀层含有第二金属材料,所述第二金属材料比银难以发生离子迁移现象。

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