[发明专利]半导体存储器有效

专利信息
申请号: 201910180265.7 申请日: 2019-03-11
公开(公告)号: CN110931488B 公开(公告)日: 2023-10-10
发明(设计)人: 永岛贤史;荒井史隆 申请(专利权)人: 铠侠股份有限公司
主分类号: H10B41/30 分类号: H10B41/30;H10B41/20;H10B43/30;H10B43/20
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 万利军;段承恩
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 半导体 存储器
【权利要求书】:

1.一种半导体存储器,具备:

基板;

第1构件,在相对于所述基板的表面垂直的第1方向上延伸,并包括第1半导体层;

第1布线,在与所述基板的表面平行的第2方向上延伸;

第2布线,在所述第2方向上延伸,并在与所述第1方向和所述第2方向交叉且相对于所述基板的表面平行的第3方向上与所述第1布线相邻;

第1存储单元,在所述第1布线与所述第1构件之间存储信息;

第2存储单元,在所述第2布线与所述第1构件之间存储信息;

第2构件,在所述第1方向上延伸,在所述第1方向上设置在所述第1构件上方,并包括第2半导体层;

第3布线,在所述第1方向上设置在所述第1布线上方,并在所述第2方向上延伸;

第4布线,在所述第2方向上延伸,并在所述第3方向上与所述第3布线相邻;

第3存储单元,在所述第3布线与所述第2构件之间存储信息;

第4存储单元,在所述第4布线与所述第2构件之间存储信息;以及

第3半导体层,设置在所述第1构件与所述第2构件之间,并与所述第1半导体层和所述第2半导体层连续。

2.根据权利要求1所述的半导体存储器,

所述第3半导体层包括气隙。

3.根据权利要求1所述的半导体存储器,

所述第3半导体层包括接缝。

4.根据权利要求1所述的半导体存储器,

所述第3半导体层包括第1部分、第2部分、以及在所述第3方向上设置于所述第1部分与所述第2部分之间的第3部分,

所述第2方向上的所述第1部分的尺寸长于所述第2方向上的所述第3部分的尺寸。

5.根据权利要求1所述的半导体存储器,

所述第2方向上的所述第3半导体层的尺寸大于所述第2方向上的所述第1构件的尺寸。

6.根据权利要求1所述的半导体存储器,

所述第3方向上的所述第3半导体层的尺寸大于所述第3方向上的所述第1构件的尺寸。

7.根据权利要求1所述的半导体存储器,

所述第1构件包括设置在所述第1布线与所述第2布线之间的第1芯层,

所述第2构件包括设置在所述第3布线与所述第4布线之间的第2芯层,

所述第1芯层的上部与所述第3半导体层的底部相接,

所述第2半导体层的底部设置在所述第2芯层的底部与所述第3半导体层的上部之间。

8.根据权利要求7所述的半导体存储器,

所述第1构件包括:

所述第1布线与所述第1芯层之间的第1绝缘层;

所述第1布线与所述第1绝缘层之间的第1电荷蓄积层;

所述第1布线与所述第1电荷蓄积层之间的第2绝缘层;

所述第2布线与所述第1芯层之间的第3绝缘层;

所述第2布线与所述第3绝缘层之间的第2电荷蓄积层;以及

所述第2布线与所述第2电荷蓄积层之间的第4绝缘层,

所述第2构件包括:

所述第3布线与所述第2半导体层之间的第5绝缘层;

所述第3布线与所述第5绝缘层之间的第3电荷蓄积层;

所述第3布线与所述第3电荷蓄积层之间的第6绝缘层;

所述第4布线与所述第2半导体层之间的第7绝缘层;

所述第4布线与所述第7绝缘层之间的第4电荷蓄积层;以及

所述第4布线与所述第4电荷蓄积层之间的第8绝缘层。

9.根据权利要求1所述的半导体存储器,

所述第1构件及所述第2构件各自具有矩形的平面形状。

10.根据权利要求1所述的半导体存储器,

所述第1构件及所述第2构件各自具有包含弧状的平面形状。

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