[发明专利]半导体存储器有效
| 申请号: | 201910180265.7 | 申请日: | 2019-03-11 |
| 公开(公告)号: | CN110931488B | 公开(公告)日: | 2023-10-10 |
| 发明(设计)人: | 永岛贤史;荒井史隆 | 申请(专利权)人: | 铠侠股份有限公司 |
| 主分类号: | H10B41/30 | 分类号: | H10B41/30;H10B41/20;H10B43/30;H10B43/20 |
| 代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 万利军;段承恩 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 半导体 存储器 | ||
1.一种半导体存储器,具备:
基板;
第1构件,在相对于所述基板的表面垂直的第1方向上延伸,并包括第1半导体层;
第1布线,在与所述基板的表面平行的第2方向上延伸;
第2布线,在所述第2方向上延伸,并在与所述第1方向和所述第2方向交叉且相对于所述基板的表面平行的第3方向上与所述第1布线相邻;
第1存储单元,在所述第1布线与所述第1构件之间存储信息;
第2存储单元,在所述第2布线与所述第1构件之间存储信息;
第2构件,在所述第1方向上延伸,在所述第1方向上设置在所述第1构件上方,并包括第2半导体层;
第3布线,在所述第1方向上设置在所述第1布线上方,并在所述第2方向上延伸;
第4布线,在所述第2方向上延伸,并在所述第3方向上与所述第3布线相邻;
第3存储单元,在所述第3布线与所述第2构件之间存储信息;
第4存储单元,在所述第4布线与所述第2构件之间存储信息;以及
第3半导体层,设置在所述第1构件与所述第2构件之间,并与所述第1半导体层和所述第2半导体层连续。
2.根据权利要求1所述的半导体存储器,
所述第3半导体层包括气隙。
3.根据权利要求1所述的半导体存储器,
所述第3半导体层包括接缝。
4.根据权利要求1所述的半导体存储器,
所述第3半导体层包括第1部分、第2部分、以及在所述第3方向上设置于所述第1部分与所述第2部分之间的第3部分,
所述第2方向上的所述第1部分的尺寸长于所述第2方向上的所述第3部分的尺寸。
5.根据权利要求1所述的半导体存储器,
所述第2方向上的所述第3半导体层的尺寸大于所述第2方向上的所述第1构件的尺寸。
6.根据权利要求1所述的半导体存储器,
所述第3方向上的所述第3半导体层的尺寸大于所述第3方向上的所述第1构件的尺寸。
7.根据权利要求1所述的半导体存储器,
所述第1构件包括设置在所述第1布线与所述第2布线之间的第1芯层,
所述第2构件包括设置在所述第3布线与所述第4布线之间的第2芯层,
所述第1芯层的上部与所述第3半导体层的底部相接,
所述第2半导体层的底部设置在所述第2芯层的底部与所述第3半导体层的上部之间。
8.根据权利要求7所述的半导体存储器,
所述第1构件包括:
所述第1布线与所述第1芯层之间的第1绝缘层;
所述第1布线与所述第1绝缘层之间的第1电荷蓄积层;
所述第1布线与所述第1电荷蓄积层之间的第2绝缘层;
所述第2布线与所述第1芯层之间的第3绝缘层;
所述第2布线与所述第3绝缘层之间的第2电荷蓄积层;以及
所述第2布线与所述第2电荷蓄积层之间的第4绝缘层,
所述第2构件包括:
所述第3布线与所述第2半导体层之间的第5绝缘层;
所述第3布线与所述第5绝缘层之间的第3电荷蓄积层;
所述第3布线与所述第3电荷蓄积层之间的第6绝缘层;
所述第4布线与所述第2半导体层之间的第7绝缘层;
所述第4布线与所述第7绝缘层之间的第4电荷蓄积层;以及
所述第4布线与所述第4电荷蓄积层之间的第8绝缘层。
9.根据权利要求1所述的半导体存储器,
所述第1构件及所述第2构件各自具有矩形的平面形状。
10.根据权利要求1所述的半导体存储器,
所述第1构件及所述第2构件各自具有包含弧状的平面形状。
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