[发明专利]测试单元、阵列板及显示面板COG绑定状态的监测方法

说明书

本发明涉及一种测试单元、阵列板及显示面板COG绑定状态的监测方法，监测方法包括以下步骤：提供阵列板，阵列板包括两个以上相互间隔设置的显示面板，相邻两个显示面板之间及两个以上显示面板的外周侧具有空白区域；在空白区域上设置测试单元，测试单元包括复制接线端子膜层，复制接线端子膜层为复制显示面板的绑定区域的接线端子膜层构成；将芯片与测试单元绑定，监测芯片与测试单元的绑定状态，以验证显示面板的COG绑定状态。根据本发明实施例提供的测试单元、阵列板及显示面板COG绑定状态的监测方法，通过测试单元能够有效的反馈确认显示面板的COG各区域的绑定状态。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别是涉及一种测试单元、阵列板以及显示面板COG绑定状态的监测方法。

背景技术

随着科技的不断发展，电子终端设备的使用日趋增多，如手机、平板电脑、计算机等。而OLED显示技术具有自发光的特性，采用非常薄的有机材料涂层和玻璃基板，当有电流通过时，这些有机材料就会发光，而且OLED显示屏幕可视角度大，并且能够节省电能，因此在终端设备的显示屏幕中应用越来越广泛。

现有的OLED显示器为了能够更好地降低成本，通常将驱动电路的芯片绑定于有机发光二极管的玻璃基板上(Chip On Glass，COG)，目前OLED显示面板由于无额外背光源保护基板玻璃，芯片所在单层玻璃会有倒角制程，消去玻璃尖角，避免机构上的破片风险影响显示。然而，该方式同时使得单层玻璃区面积减小，导致无法布置相关的诸多监控用接线端子及走线等，进而使得现有的测试监控方案无法有效确认显示面板的COG各区域bonding状态。

发明内容

本发明实施例提供一种测试单元、阵列板以及显示面板COG绑定状态的监测方法，通过测试单元能够有效的反馈确认显示面板的COG各区域的绑定状态。

本发明实施例一方面提出了一种测试单元，用于验证显示面板COG绑定状态，测试单元包括：复制接线端子膜层，复制接线端子膜层为复制显示面板的绑定区域的接线端子膜层构成。

根据本发明实施例的一个方面，复制接线端子膜层包括显示面板的绑定区域的输入端子膜层及输出端子膜层。

根据本发明实施例的另一个方面提出了一种阵列板，包括：显示面板，包括相互间隔设置的两个以上的显示面板，相邻两个显示面板之间及两个以上显示面板的外周侧具有空白区域；测试单元，设置于空白区域，测试单元包括复制接线端子膜层，所述复制接线端子膜层为复制所述显示面板的绑定区域的接线端子膜层构成。

根据本发明实施例的又一个方面提出了一种显示面板COG绑定状态的监测方法，包括以下步骤：提供阵列板，阵列板包括两个以上相互间隔设置的显示面板，相邻两个显示面板之间及两个以上显示面板的外周侧具有空白区域；在空白区域上设置测试单元，测试单元包括复制接线端子膜层，复制接线端子膜层为复制显示面板的绑定区域的接线端子膜层构成；将芯片与测试单元绑定，监测芯片与测试单元的绑定状态，以验证显示面板的COG绑定状态。

根据本发明实施例的又一个方面，将芯片与测试单元绑定，监测芯片与测试单元的绑定状态，以验证显示面板的COG绑定状态的步骤中，通过监测芯片与测试单元的绑定阻抗来监测芯片与测试单元的绑定状态。

根据本发明实施例的又一个方面，进一步包括根据芯片与测试单元的绑定阻抗来调整绑定工艺条件，当绑定阻抗大于所述预设阻值时，调整绑定工艺条件，其中，所述预设阻值小于等于10Ω。

根据本发明实施例的又一个方面，将芯片与所述测试单元绑定，监测芯片与测试单元的绑定状态，以验证显示面板的COG绑定状态的步骤中，通过监测芯片与测试单元绑定区域的粒子状态来监测所述芯片与测试单元的绑定状态。

根据本发明实施例的又一个方面，进一步包括根据芯片与测试单元绑定区域的粒子状态来调整绑定工艺条件，当芯片与测试单元绑定区域的粒子数小于8和/或没有可见压痕时，调整绑定工艺条件。