[发明专利]基板处理装置、半导体装置的制造方法和程序在审
申请号: | 201880059218.0 | 申请日: | 2018-03-01 |
公开(公告)号: | CN111095517A | 公开(公告)日: | 2020-05-01 |
发明(设计)人: | 广地志有 | 申请(专利权)人: | 株式会社国际电气 |
主分类号: | H01L21/677 | 分类号: | H01L21/677 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 金成哲;郑毅 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 处理 装置 半导体 制造 方法 程序 | ||
本发明提供一种即使在设有基板冷却工序的情况下也能够抑制生产率降低的电磁波处理技术。具有对基板进行加热的处理室、使由所述处理室加热的基板冷却的冷却室、以及输送所述基板的基板输送部,利用所述基板输送部搬入所述处理室的所述基板的个数比搬入所述冷却室的基板的个数多。
技术领域
本发明涉及一种基板处理装置、半导体装置的制造方法和程序。
背景技术
作为半导体装置(半导体器件)的制造工序中的一种工序,例如是利用加热装置对处理室内的基板进行加热并使形成于基板表面的薄膜中的成分或晶体结构变化、或者对所形成的薄膜内的晶体缺陷等进行修复的退火处理等改性处理。近年来的半导体器件的精密化、高集成化程度进一步提高,相应地要求进行改性处理以获得形成有具有较高纵横比的图案的高密度的基板。作为获得这种高密度基板的改性处理方法有利用电磁波的热处理方法。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2015-070045号公报
发明内容
发明所要解决的课题
就现有的利用电磁波的处理而言,由于需要设置使经热处理加热为高温的基板在处理室内冷却的冷却工序而有可能导致生产率降低。
本发明的目的在于提供一种即使在设有基板冷却工序的情况下也能够抑制生产率降低的电磁波处理技术。
用于解决课题的方案
根据本发明的一个方案,提供如下一种技术,
具备对基板进行加热的处理室、使经所述处理室加热的基板冷却的冷却室、以及输送所述基板的基板输送部,利用所述基板输送部搬入至所述处理室的所述基板的个数比利用所述基板输送部搬入至所述冷却室的基板的个数多。
发明的效果
根据本发明,能够提供一种即使在设有基板冷却工序的情况下也能够抑制生产率降低的电磁波处理技术。
附图说明
图1是以处理炉的位置来表示本发明实施方式所适用的基板处理装置的概要结构的纵剖视图。
图2是表示本发明实施方式所适用的基板处理装置的概要结构的横剖视图。
图3是以纵剖视图来表示本发明实施方式所适用的基板处理装置的处理炉部分的概要结构图。
图4是以冷却室的位置来表示本发明实施方式所适用的基板处理装置的概要结构的纵剖视图。
图5(A)是示意地表示将晶圆向冷却室输送的方法的图。图5(B)是示意地表示将完成了冷却的晶圆从冷却室搬出的方法的图。
图6是表示本发明实施方式所适用的输送室的吹扫气体循环结构的图。
图7是本发明所适用的基板处理装置的控制器的概要结构图。
图8是表示本发明的基板处理的流程的图。
图9(A)是表示通过处理室的闸阀开放而使输送室内的压力降低时的各部的控制内容的图。图9(B)是表示通过处理室的闸阀开放而使输送室内的压力升高时的各部的控制内容的图。
具体实施方式
<本发明的一个实施方式>
以下参照附图对本发明的一个实施方式进行说明。
(1)基板处理装置的结构
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造