[发明专利]估计对于使用相控阵列系统的源跟踪的角度测量值有效

专利信息
申请号: 201880017998.2 申请日: 2018-02-22
公开(公告)号: CN110418974B 公开(公告)日: 2021-03-12
发明(设计)人: 阿舒托什·潘迪;纳恩·特兰;赖杰;詹姆斯·维哈迪亚;杜莱·蒂鲁帕迪 申请(专利权)人: 赛普拉斯半导体公司
主分类号: G01S3/32 分类号: G01S3/32;G01S3/46;G01S13/42;G01S13/44
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人: 张瑞;杨明钊
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 估计 对于 使用 相控阵 系统 跟踪 角度 测量
【权利要求书】:

1.一种设备,其包括:

收发机,所述收发机通过多个天线元件发送或接收射频(RF)信号;和

耦合到所述收发机的处理器,所述处理器执行多角度源跟踪工具,所述多角度源跟踪工具被配置为基于所述RF信号确定并存储所述多个天线元件和第二天线之间的角度的一组角度估计值、一组置信度度量以及到达区域(ARoA)值或离开区域(ARoD)值中的至少一个,其中所述一组置信度度量中的每一个表示所述一组角度估计值中的角度估计值的置信度。

2.根据权利要求1所述的设备,其中,为了确定所述一组角度估计值和所述一组置信度度量,所述处理器用于:

基于所述RF信号的数字采样执行源跟踪算法来获得原始角度值,其中所述源跟踪算法包括对所述原始角度值进行加权来提高所述源跟踪算法的精度的成本函数;

用高斯混合模型(GMM)对所述原始角度值进行统计学上地建模来获得多个混合物,所述多个混合物中的每个混合物包括GMM参数,所述GMM参数包括权重、平均值和方差;

根据所述GMM参数估计对于所述多个混合物中的每一个混合物的期望角度值,以获得所述多个天线元件和所述第二天线之间的所述角度的所述一组角度估计值;和

根据所述GMM参数计算对于所述多个混合物的所述一组角度估计值中的每一个角度估计值的置信度度量,以获得所述一组置信度度量。

3.根据权利要求2所述的设备,其中,所述处理器根据所述一组角度估计值和所述一组置信度度量确定所述ARoA值或ARoD值中的至少一个,其中所述ARoA值或ARoD值中的所述至少一个表示所述多个天线元件和所述第二天线之间的成角度区域,并且其中所述一组角度估计值中的角度估计值是到达角(AoA)值、离开角(AoD)值、到达时延(TDoA)值、离开时延(TDoD)值、到达方向(DoA)值或离开方向(DoD)值中的至少一个。

4.根据权利要求2所述的设备,其中,所述处理器还根据所述一组置信度度量确定总体置信度度量。

5.根据权利要求2所述的设备,其中,所述源跟踪算法包括由所述成本函数修改的基于广义互相关(GCC)的算法。

6.根据权利要求2所述的设备,其中,所述源跟踪算法包括由所述成本函数修改的广义互相关相位变换(GCC-PHAT)算法。

7.根据权利要求2所述的设备,其中,所述源跟踪算法包括由所述成本函数修改的多重信号分类(MUSIC)算法。

8.一种片上系统(SoC),其包括:

收发机,所述收发机被配置为耦合到多个天线元件,以向第二天线发送射频(RF)信号或从所述第二天线接收所述射频(RF)信号;

耦合到所述收发机的处理器,所述处理器用于处理代表所述RF信号的数字值,其中所述处理器用于:

获得原始角度采样;

用所述原始角度采样更新统计模型;

使用统计分类器根据所述统计模型识别一个或更多个角度场景;

根据所述统计模型确定对于所述一个或更多个角度场景中的每一个的估计角度值;

根据所述统计模型计算对于所述一个或更多个角度场景中的每一个的所述估计角度值的置信度值;和

当对于所述一个或更多个角度场景的所述估计角度值的所述置信度值小于置信度阈值时,

根据所述一个或更多个角度场景估计所述多个天线元件和所述第二天线之间的若干多径,

根据所述估计角度值和相应的置信度值估计所述多个天线元件和所述第二天线之间的成角度区域,以获得估计的成角度区域值,以及

报告所述若干多径和所述估计的成角度区域值。

9.根据权利要求8所述的SoC,其中,当对于所述一个或更多个角度场景的所述估计角度值的所述置信度值等于或大于所述置信度阈值时,所述处理器还报告所述估计角度值。

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