[发明专利]一种低掺杂浓度氮化镓的制备工艺在审

专利信息
申请号: 201811586310.0 申请日: 2018-12-25
公开(公告)号: CN109686661A 公开(公告)日: 2019-04-26
发明(设计)人: 赵杰;徐涛 申请(专利权)人: 天津市耀宇科技有限公司
主分类号: H01L21/265 分类号: H01L21/265;H01L21/324
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 300000 天津市东丽区华*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 掺杂剂 加热 掺杂 电流离子 制备工艺 氮化镓 低掺杂 注入机 材料准备 分散处理 加热处理 冷却处理 退火处理 注入离子 加热箱 放入 位错 保温 器材
【说明书】:

发明提供了一种低掺杂浓度氮化镓的制备工艺,包括以下步骤:S1,材料准备,准备GaN基板与其他相应器材;S2,安装准备工作,完成GaN基板的安装;S3,调节中电流离子注入机参数;S4注入离子,启动中电流离子注入机,向GaN基板中注入Mg离子;S5,加热处理,将上步中的GaN基板放入到加热箱内进行加热;S6退火处理,降低加热箱的加热温度然后保温;S7冷却处理。本发明通过对GaN基板进行双面注入,提高了掺杂剂Mg在整个GaN基板的掺杂效率;在对GaN基板进行注入掺杂后,再通过加热将GaN基板内的掺杂剂Mg进行二次分散处理,进而提高了掺杂剂Mg在GaN基板中的分散程度,极大的降低了位错,进一步的提高了掺杂剂Mg在GaN基板中的掺杂效率。

技术领域

本发明涉及氮化镓掺杂技术领域,具体为一种低掺杂浓度氮化镓的制备工艺。

背景技术

氮化镓是一种具有较大禁带宽度的半导体,属于所谓宽禁带半导体之列,宽直接带隙为3.4eV,同时也是一种极稳定的、坚硬的高熔点材料,具有电子饱和速率高、介电系数小、导热性能好和抗辐射强度高等优良性能,是制作发光二极管(LED)、激光二极管(LD)和高温大功率集成电路的理想材料。

GaN还具有强的原子键、高的热导率、好的化学稳定性(几乎不被任何酸腐蚀)、高击穿电压和强抗辐照能力等,在合成高温气敏传感器材料、高密度信息存储、高速激光打印、紫外探测器、高频微波器件和高密度集成电路等应用方面也有着广阔的应用潜力,为了制备高质量的GaN基材料的器件,高质量p型掺杂GaN材料的生长是一种关键技术。

而掺杂GaN并非浓度越高越好,研究表明低掺杂浓度GaN中的掺杂剂可以被更好的分散到GaN中,从而降低了掺杂GaN中的位错,进而能提高掺杂剂的分解效率,使空穴浓度增加,提高掺杂在GaN的整体质量,现有技术中,p型掺杂水平太低,虽然比较获得较高掺杂浓度GaN,但所得空穴浓度只有1017-1018/cm3,迁移率<10cm2/V.s,掺杂效率只有0.1%-1%。

发明内容

本发明要解决的技术问题是克服现有的缺陷,提供一种裸眼3D动画图像转化方法,可以有效解决背景技术中的问题。

本发明的目的在于提供一种低掺杂浓度氮化镓的制备工艺,以解决上述背景技术中提出P型掺杂水平低的问题。

为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种低掺杂浓度氮化镓的制备工艺,包括以下步骤:

S1,材料准备:准备GaN基板、翻转架、真空箱、中电流离子注入机、加热箱、氮气源、离子源;

S2,安装准备工作,将GaN基板装夹在翻转架上,并将翻转架放置在真空箱的正中位置,将中电流离子注入机的注射头固定安装在真空箱顶部的正中位置,抽真空处理;

S3,调节中电流离子注入机参数,设定注射电流为80m-110mA,电压设定为5KV-10KV,离子束能量为20KeV-110KeV,离子密度为2x1013/cm2-4x1013/cm2

S4,注入离子,启动中电流离子注入机,注射头射出离子束的投射到GaN基板表面上,并均匀分散到GaN基板的内部;

S5,加热处理,将上步中的GaN基板从真空箱内取出并放入到加热箱中加热;

S6,退火处理,停止加热后,向加热箱内通入氮气,然后降温到一定温度,并保温一段时间;

S7,冷却处理,退火处理后,关停加热炉,使GaN基板随加热炉自然冷却,冷却后将加热炉内氮气放掉,然后从加热炉内取出完成掺杂处理的GaN基板。

优选的,步骤一中,所选的离子源为Mg。

优选的,步骤二中,抽真空时长为20分钟-30分钟,保证真空箱内的真空度为10pa-3x10pa,温度为20℃-40℃。

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